中心議題：

• 係統DC電源的選擇如何影響著測試吞吐量

解決方案：

• 程控積分提供了快速準確的測量結果
• 在使用多個輸出時實現更高的吞吐量

許多電子產品的自動測試時間隻有幾秒鍾，係統DC電(dian)源(yuan)可(ke)能(neng)在(zai)這(zhe)一(yi)時(shi)間(jian)中(zhong)占(zhan)相(xiang)當(dang)大(da)的(de)比(bi)重(zhong)，因(yin)此(ci)在(zai)優(you)化(hua)測(ce)試(shi)吞(tun)吐(tu)量(liang)值(zhi)得(de)關(guan)注(zhu)。但(dan)是(shi)，電(dian)源(yuan)的(de)判(pan)斷(duan)標(biao)準(zhun)通(tong)常(chang)是(shi)價(jia)格(ge)和(he)輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)，而(er)不(bu)是(shi)其(qi)對(dui)測(ce)試(shi)吞(tun)吐(tu)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)。電(dian)源(yuan)的(de)輸(shu)出(chu)響(xiang)應(ying)速(su)度(du)、celiangsuduhetediandouhuiyingxiangceshituntuliang。xuduodianyuankenenghuijingrendeman，yincijinguanchengbenjiaodi，danqikenengbingbushichengbenzuididexuanze。renzhenkaochaheceliangtuntuliangtedianjizhun
，quanhengceshishijianchengben，zaixuanzexiayigexitongDC電源可能會給您帶來巨大的回報！

係統DC電源輸出響應速度

許多設備在多種不同的DC偏置電壓上進行測試，以在指定工作範圍內保證正確的性能。多次改變偏置電壓可能會累積幾秒的時間，占測試時間的很大比重。
在把電源輸出電壓設置變成新值時需要幾個步驟，如圖1所示。這些步驟所需的時間都有限。

在(zai)電(dian)源(yuan)收(shou)到(dao)一(yi)條(tiao)命(ming)令(ling)時(shi)，電(dian)源(yuan)會(hui)處(chu)理(li)命(ming)令(ling)，這(zhe)就(jiu)是(shi)其(qi)命(ming)令(ling)處(chu)理(li)時(shi)間(jian)。然(ran)後(hou)電(dian)源(yuan)輸(shu)出(chu)會(hui)作(zuo)出(chu)響(xiang)應(ying)
，變(bian)成(cheng)新(xin)的(de)設(she)置(zhi)。在(zai)一(yi)定(ding)的(de)穩(wen)定(ding)頻(pin)段(duan)中(zhong)到(dao)達(da)最(zui)終(zhong)值(zhi)所(suo)需(xu)的(de)時(shi)間(jian)是(shi)其(qi)輸(shu)出(chu)響(xiang)應(ying)時(shi)間(jian)。

各種係統電源之間的差異可能會非常大。表1比較了許多係統DC電源與安捷倫N6750A係列DC電源模塊典型的命令處理和輸出響應時間，後者是為吞吐量優化的。該模塊屬於N6700 模塊化電源係統係列，如圖2所示。擁有快速輸出響應可以把每次電壓設置變動時間降低幾百微秒。

降壓編程器加快輸出響應時間

在兩個方向上迅速改變電壓對高吞吐量測試非常關鍵
，因此有必要提一下降壓編程輸出響應時間。許多電源依賴DUT的(de)實(shi)際(ji)負(fu)荷(he)，來(lai)降(jiang)低(di)電(dian)壓(ya)。在(zai)負(fu)荷(he)低(di)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)，如(ru)果(guo)沒(mei)有(you)降(jiang)壓(ya)編(bian)程(cheng)器(qi)，某(mou)些(xie)電(dian)源(yuan)可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)一(yi)秒(miao)的(de)時(shi)間(jian)才(cai)能(neng)達(da)到(dao)最(zui)終(zhong)值(zhi)。為(wei)高(gao)吞(tun)吐(tu)量(liang)優(you)化(hua)的(de)電(dian)源(yuan)采(cai)用(yong)內(nei)置(zhi)降(jiang)壓(ya)編(bian)程(cheng)器(qi)。降(jiang)壓(ya)編(bian)程(cheng)器(qi)是(shi)一(yi)條(tiao)負(fu)荷(he)電(dian)路(lu)，它(ta)迅(xun)速(su)放(fang)電(dian)電(dian)源(yuan)和(he)DUT電容
，快速進行降壓編程，而與DUT負荷無關。

響應速度對測試吞吐量的影響：

汽車ECU實例

汽車電子控製單元(ECU)在測試過程中可能會有最多20種偏置電壓設置
，如圖3所示。使用為吞吐量優化的電源可以節約幾秒的測試時間，對測試時間為20秒的ECU
，吞吐量可以提高20%。基於明顯的原因，這種改進得到了汽車電子行業的廣泛歡迎。
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係統DC電源測量速度

幾乎在測試過程中一直要進行DC偏置電流測量，以確定缺陷。使用係統DC電源的內置電流回讀功能

、而不是外置儀表，在速度和性能方麵都是明智之選。當前的係統DCdianyuantigongleguangfandedianliucelianggongneng，shihedaduoshuyingyong。zhideyitideshiqiceliangsudu。tongchangqingkuangxia
，duoxiangpianzhidianliuceliangshizaiceshiguochengzhongzaishebeishangjinxingde
，zhehuileijiqilai，geituntuliangchanshenggengdadeyingxiang。ciwai，celiangjingduhesudushixianghumaodunde，jinyibushishiqingfuzahua。you3個步驟會影響測量時間：

1. 電源收到並處理測量命令。
2. 電源采集實際測量數量。
3. 采集的值返回電源。

大多數通用係統DC電源采用一條傳統回讀電路
，如圖4所示。對這種傳統方法
，命令處理 時間一般是主導因素，累加測量時延會高達100毫秒。快速ADC 測量采集和返回單個讀數的時間很小
，通常不超過2毫秒。整個測量時間通常作為一個基準處理。

這種基本方法對許多情況(如果不是所有情況的話)在精度和吞吐量之間實現了合理的平衡。對高波峰因數電流信號，如數字手機的脈衝式耗電量，測量可重複性誤差或“抖動”會影響這種平衡。對多次測量進行平均在一定程度上有所幫助
，但會增加大量的測試時間。

程控積分提供了快速準確的測量結果

為吞吐量優化的係統DC電源的測量命令處理時間要低得多。許多電源還有程控測量積分時間，代替固定的ADC和低通濾波器
，如圖4所示

，以增強性能。與傳統方法一樣，它可以設置成快速測量采集時間。也可以使用程控積分，抵消信號中的周期噪聲和AC成分，大幅度改善測量性能
，但其代價是時間會大大提高。人們熟悉的實例是在電源線周期上求積分(1 PLC, 16.7或20毫秒)
，以抵消AC線路噪聲。安捷倫已經在許多係統電源產品中采用不同的方法

，包括N6760A係列DCdianyuanmokuai。tamencaiyongchengkongquyangzhouqiheshuzixinhaochuli，jinxingkuaisujingquedeceliang。zaiceliangcaijijifenshijiannenggoubianchengshi
，bixuzaizongceliangshijianjizhunzhongdandukaolvceliangcaijijifenshijian。

測量速度對測試吞吐量的影響

表2比較了傳統係統DC電源有代表性的測量命令處理和采集時間與為吞吐量優化的電源係統的時間，在本例中是安捷倫N6760A係列DC電源模塊。

從傳統係統DC電源切換到為測量吞吐量優化的電源可以把測量時間從大約100毫秒降低到最低隻有幾毫秒。對ECU之類的測試設備
，通常會進行多項耗電量測量。可以簡便地節約另外0.5-1秒的時間，有效改善了測試吞吐量。半導體設備測試則要更加嚴格。由於測試時間隻有幾秒或更低，因此即使100毫秒長的測量也沒有空間。

在使用多個輸出時實現更高的吞吐量

係統DC電源中設計的功能和程序命令對測試時間的影響可能要超過出響應和測量速度的影響。一個實例是使用多個DC輸出

，為擁有多個偏置輸入的設備供電，或並行測試多台設備，如圖5所示。最經常的情況是需要單獨發送和處理每個DC電源輸出變化或測量讀回操作，甚至對多個輸出係統DC電(dian)源(yuan)也(ye)是(shi)如(ru)此(ci)。能(neng)夠(gou)在(zai)多(duo)個(ge)輸(shu)出(chu)中(zhong)同(tong)時(shi)執(zhi)行(xing)類(lei)似(si)操(cao)作(zuo)會(hui)明(ming)顯(xian)改(gai)善(shan)測(ce)試(shi)吞(tun)吐(tu)量(liang)。在(zai)並(bing)行(xing)設(she)備(bei)測(ce)試(shi)中(zhong)，其(qi)較(jiao)順(shun)序(xu)測(ce)試(shi)各(ge)台(tai)設(she)備(bei)可(ke)能(neng)要(yao)改(gai)善(shan)幾(ji)倍(bei)。在(zai)測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)隻(zhi)有(you)幾(ji)秒(miao)長(chang)

，並(bing)且(qie)已(yi)經(jing)通(tong)過(guo)傳(chuan)統(tong)方(fang)式(shi)優(you)化(hua)時(shi)，這(zhe)為(wei)大(da)幅(fu)度(du)改(gai)善(shan)吞(tun)吐(tu)量(liang)提(ti)供(gong)了(le)有(you)效(xiao)的(de)備(bei)選(xuan)方(fang)案(an)。N6700 模塊化電源係統提供了一個通道列表命令集，在多個輸出模塊上同時支持類似操作，以實現更大的測試吞吐量。

結語

係統DC電dian源yuan是shi既ji供gong電dian又you測ce量liang的de部bu分fen儀yi器qi之zhi一yi，其qi對dui測ce試shi吞tun吐tu量liang的de影ying響xiang要yao超chao過guo通tong常chang的de預yu期qi水shui平ping。必bi須xu認ren真zhen考kao察cha和he基ji準zhun測ce試shi供gong電dian和he測ce量liang速su度du屬shu性xing，以yi評ping估gu其qi測ce試shi吞tun吐tu量liang的de影ying響xiang。切qie換huan到dao為wei吞tun吐tu量liang優you化hua的de係xi統tongDC電源可以把測試時間降低幾秒的時間
，同時提供快速準確的測量功能。

除chu速su度du基ji準zhun外wai，同tong時shi操cao作zuo多duo個ge輸shu出chu等deng功gong能neng可ke以yi明ming顯xian提ti高gao吞tun吐tu量liang

，傳chuan統tong手shou段duan的de作zuo用yong甚shen微wei。對dui並bing行xing設she備bei測ce試shi
，同tong時shi操cao作zuo可ke以yi明ming顯xian把ba吞tun吐tu量liang改gai善shan幾ji倍bei。
  
由於目前許多設備的測試時間隻有幾秒長，因此使用為吞吐量優化的係統DC電源具有重要意義
，進而受到廣泛歡迎！