IGBT單管數據手冊參數解析——下
發布時間:2023-08-14 來源:周明,英飛淩 責任編輯:wenwei
【導讀】IGBT是大家常用的開關功率器件,本文基於英飛淩單管IGBT的數據手冊,對手冊中的一些關鍵參數和圖表進行解釋說明,用戶可以了解各參數的背景信息,以便合理地使用IGBT。
在上篇《IGBT單管數據手冊參數解析——上》中,我們介紹了IGBT的命名、最大額定值及靜態參數。今天我們介紹動態特性、開關特性及其它參數。
4.動態特性
● 輸入電容,輸出電容和反向傳輸電容Cies,Coes和Cres
輸入電容Cies,是Cres同CGE之和,是設計驅動的一個關鍵參數。它在每個開關周期進行充電和放電,它定義了柵極驅動損耗。另一方麵,CGE減少了在半橋拓撲中由於電流流過電容Cres而導致的寄生導通的風險。
輸出電容Coes,是Cres同CCE之和。它對EMI有很大的影響,它影響集電極-發射極的dV/dt。
反向傳輸電容Cres,也稱為米勒電容,它決定了IGBT開關時電流和電壓之間的交叉時間,影響著開關損耗。Cres/CGE對集電極-發射極的dV/dt和VGE之間的耦合效應有很大影響,降低該比率可實現快速開關能力,並避免器件不必要的寄生導通。
● 柵極電荷QG
柵極電荷描述了驅動柵極電壓VGE到一定值(通常是15V)所需的電荷量。它是驅動損耗的主要因素,並影響到整個驅動電路的設計。驅動損耗可以通過以下公式得出。
15
上圖顯示了典型的柵極電荷曲線,從曲線中可以得到驅動VGE到某一數值所需的QG值。QG是負載電流和集電極-發射極電壓的一個函數。通常情況下,它是針對IC的額定值和不同的VCE值繪製的。
● 內部發射極電感LE
LE是總換流回路電感的一部分,它通常同關斷電壓過衝和開關損耗有關。因此,該值需要盡量的小,特別是對於在高開關頻率下運行的IGBT。
注意:內部發射極電感上的電壓降無法從外部測量,但在考慮最大關斷電壓過衝時,需要考慮這部分電壓。
5.開關特性
開關性能在很大程度上取決於幾個因素,例如:集電極電流、集電極-發射極電壓、溫度、外wai部bu柵zha極ji電dian阻zu以yi及ji電dian路lu板ban設she計ji和he寄ji生sheng參can數shu,特te別bie是shi電dian感gan和he電dian容rong。因yin此ci,在zai不bu同tong製zhi造zao商shang的de零ling件jian之zhi間jian根gen據ju數shu據ju手shou冊ce的de數shu值zhi進jin行xing直zhi接jie比bi較jiao可ke能neng不bu是shi一yi個ge正zheng確que的de比bi較jiao。因yin此ci,強qiang烈lie建jian議yi通tong過guo應ying用yong測ce試shi和he適shi當dang的de表biao征zheng來lai評ping估gu這zhe些xie器qi件jian。
下述這些參數通常根據國際標準的定義進行測量和評估,如JEDEC或IEC60747-(2007)。
t(d)on:從VGE的10%到IC的10%
tr:從IC的10%到IC的90%
t(d)off:從VGE的90%到IC的90%
tf:從IC的90%到IC的10%
其中VGE是柵極電壓,IC是集電極電流。
開關損耗Eon和Eoff是IGBT開關期間VCE和IC乘積的積分,IGBT的拖尾效應也需考慮在內。
遵循IEC標準,Eon和Eoff定義如下:
Eon:tsw從10%的VGE開始,到2%的VCE結束。
Eoff:tsw從90%的VGE開始,到2%的IC結束。
Ets:總開關損耗,是Eon和Eoff之和。
通常情況下,用作測量Eon和Eoff的測試裝置如下圖示,上管IGBT同下管被測IGBT是相同的,即下管被測IGBT關斷後,是由同樣規格的上管IGBT的反並二極管做續流。
對於用於諧振應用的IGBT(電磁爐、變頻微波爐、工業焊機、電池充電),在數據手冊中隻包含關斷參數的值。之所以這樣做,是因為這些器件在開通時通常以軟開關方式工作,因此開通參數的值沒有用。
下圖是IHW40N120R5的數據手冊。
對於共封裝帶續流二極管和逆導型IGBT(IKx和IHx),反並聯續流二極管的電氣特性也在數據手冊中定義。
○ 反向恢複時間trr和反向恢複電荷Qrr
○ 反向恢複電流峰值Irrm
○ 在規定的時間內,反向恢複電流的峰值下降率dIrr/dt
○ 反向恢複損耗Erec
由於反並聯二極管在應用中經常充當續流二極管,它的恢複特性對IGBT的開通非常重要,特別是在高開關頻率應用中,其性能受到二極管正向電流IF、正向電流變化率dIF/dt以及工作溫度的強烈影響。
6.其他參數
● 輸出特性
輸出特性表示電壓VCE是IC的函數,它通常在幾個不同柵極電壓VGE下給出。這些曲線取決於結溫,因此在數據表中提供了兩張圖,一張是在室溫25°C時;另一個是在高溫150°C或175°C時。
如果柵極電壓VGE設置在10V以下,負載電流會在某一數值上趨於飽和。為了避免IGBT的飽和,也就是所謂的線性工作區,建議VGE電壓至少為15V。
快速開關器件通常具有較高的跨導。因此,較低的驅動電壓如+12V也可以考慮,主要是為了實現以下好處。
1.增加短路耐受時間以提高可靠性
2.減少IGBT關斷時的電壓過衝現象
3.減少在高頻率下運行的柵極驅動器的驅動損耗
也應考慮較低柵極電壓的缺點:較高的導通損耗和較高的開關損耗。
● 短路耐受時間tSC
tSC定義了IGBT在短路條件下可以承受的,不發生故障的時間。它是在結溫150°C或175°C,柵極電壓VGE=+15V和一定的母線電壓VCC的情況下定義的。該參數的母線電壓通常對於600V/650V的器件是400V,對於1200V的器件是600V。
典型的Ⅰ類短路(指器件在開通前就已經短路)波形如下圖示:
集電極電流在母線電壓和環路電感的影響下迅速上升。之後,它保持在特定柵極電壓下的飽和電流值附近。IGBT上shang的de電dian壓ya降jiang與yu母mu線xian電dian壓ya相xiang同tong。因yin此ci,在zai芯xin片pian中zhong產chan生sheng了le巨ju大da的de功gong率lv損sun耗hao,導dao致zhi結jie溫wen快kuai速su上shang升sheng。盡jin管guan由you於yu較jiao高gao的de結jie溫wen,電dian流liu略lve有you下xia降jiang,但dan功gong率lv損sun耗hao是shi非fei常chang高gao的de,並bing會hui損sun壞huai芯xin片pian。為wei了le避bi免mianIGBT的損壞,在短路過程中,有必要對IGBT進行相應的保護。
一般來說,短路耐受時間因技術而異,它表明了IGBT的耐受程度。請注意,它通常是技術權衡優化的結果。更高的短路耐受時間是通過限製載流子密度以及IGBT的跨導來獲得的。但這將降低開關和導通性能。
● 短路電流ISC
短路電流是為有短路能力的IGBT定義的。
在數據手冊中,下圖顯示了ISC和tSC與柵極電VGE的關係。對於較高的VGE,ISC會增加,而tSC反而會減少,這與輸出特性有關。
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