功率半導體生命周期中的測試挑戰
發布時間:2017-08-25 責任編輯:susan
【導讀】gonglvbandaotiqijiandezhenggeshengmingzhouqizhongxuyaojinxinggezhongceshihebiaozhenghuodong。zaizhegeliuchengdemeiyigejieduan,gongchengshimianlinzhebutongdeceliangtiaozhan,congxingonglvqijianzaoqishejijieduan,daozhenduanguzhangjizuizhongbaqijiantuixiangshichang。
在許多情況下,工程師發現他們的教育、peixunhezhiyedaolubazijiyinxianglefeichangzhaidezhuanyelingyu。jinguantamenkeyizaiyilianggelingyuzhongjileizhuanjiajizhishi,dantamenhenshaonenglejietongxingmenzaichanpinkaifazhouqiqitalingyumianlindeceshihebiaozhengtiaozhan。tamenyoushixuyaoyuqitagongchengshixiezuo,zaitamenzouchushushiqushi,youyuquefaduizhexietiaozhandelejie,jiuhuichanshenghenduowenti。
讓我們從測試和表征的角度看一下功率半導體生命周期中都涉及了哪些挑戰。
針對新應用評估現有器件
應(ying)用(yong)工(gong)程(cheng)師(shi)與(yu)客(ke)戶(hu)協(xie)作(zuo),他(ta)們(men)一(yi)直(zhi)要(yao)對(dui)設(she)計(ji)進(jin)行(xing)壓(ya)力(li)測(ce)試(shi),或(huo)者(zhe)要(yao)擴(kuo)展(zhan)設(she)計(ji),實(shi)現(xian)最(zui)大(da)效(xiao)率(lv)。這(zhe)些(xie)客(ke)戶(hu)需(xu)要(yao)器(qi)件(jian)技(ji)術(shu)數(shu)據(ju)之(zhi)外(wai)的(de)細(xi)節(jie)。他(ta)們(men)的(de)要(yao)求(qiu)一(yi)直(zhi)在(zai)不(bu)斷(duan)變(bian)化(hua),因(yin)此(ci)要(yao)測(ce)量(liang)的(de)項(xiang)目(mu)可(ke)能(neng)每(mei)天(tian)都(dou)會(hui)變(bian)化(hua)。怎(zen)樣(yang)才(cai)能(neng)迅(xun)速(su)簡(jian)便(bian)地(di)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang),而(er)又(you)不(bu)會(hui)浪(lang)費(fei)時(shi)間(jian)重(zhong)新(xin)學(xue)習(xi)軟(ruan)件(jian)或(huo)儀(yi)器(qi)呢(ne)?
對這類應用,非常重要的一點是要有一整套測試功能,包括脈衝、DC和C-V。采用器件專用詞彙的軟件(而不是儀器專用詞彙)可以幫助簡化測量。這些軟件還可以簡化多台源測量單元(SMU)儀器之間的交互,用戶可以把重點放在被測器件上,而不是測量儀器上。
為使事情變得更簡便,各廠商開始提供適用於SMU儀器的智能手機和平板電腦應用(圖1),來執行I-V表征,包括2端子和3端子器件測試及趨勢監測。這些應用可以互動分析和查看器件特點,而不需要編程。其應用包括各種材料、2端子和多端子半導體器件、太陽能電池和嵌入式係統上的電流相對於電壓關係(I-V)測試。

圖1.IVy 安卓應用與Keithley SMUs協作,執行I-V表征。
為不斷變化的需求設計器件
weiyouxiaoshejimanzukehuzuixinyaoqiudeqijian,gonglvqijianshejigongchengshihegongyigongchengshibixulejiezenyangtiaozhenggongyi,dedaoxiangyaodeqijianxingneng。tamenbixuxiangxinqijianmoxingchongfenzhunque,gaibiantedinggongyibuzhoubixuzaiqijianceliangcanshuzhongchanshengbiyaodebianhua。yinci,qijiangongchengshibixuduiguanjianqijiancanshuzhixingchubujianyan。
為(wei)幫(bang)助(zhu)在(zai)更(geng)少(shao)的(de)時(shi)間(jian)內(nei)把(ba)全(quan)麵(mian)優(you)化(hua)的(de)器(qi)件(jian)帶(dai)入(ru)市(shi)場(chang),參(can)數(shu)曲(qu)線(xian)示(shi)圖(tu)儀(yi)現(xian)在(zai)配(pei)備(bei)了(le)軟(ruan)件(jian),可(ke)以(yi)迅(xun)速(su)檢(jian)驗(yan)關(guan)鍵(jian)器(qi)件(jian)參(can)數(shu)及(ji)器(qi)件(jian)特(te)點(dian),包(bao)括(kuo)實(shi)時(shi)跟(gen)蹤(zong)模(mo)式(shi)(圖2),檢查基礎器件參數,如擊穿電壓;全麵參數模式,提取精確的器件參數。除操作直觀外,這些工具還包括大型器件程序庫和內置公式工具,可以迅速把測量與器件參數關聯起來。

圖2.跟蹤模式可以全麵表征器件。
表征性能
表(biao)征(zheng)工(gong)程(cheng)師(shi)提(ti)供(gong)了(le)必(bi)要(yao)的(de)專(zhuan)業(ye)測(ce)量(liang)知(zhi)識(shi),並(bing)了(le)解(jie)測(ce)量(liang)異(yi)常(chang)會(hui)給(gei)器(qi)件(jian)性(xing)能(neng)非(fei)目(mu)標(biao)領(ling)域(yu)帶(dai)來(lai)什(shen)麼(me)樣(yang)的(de)影(ying)響(xiang)。必(bi)須(xu)快(kuai)速(su)獲(huo)得(de)結(jie)果(guo),以(yi)便(bian)器(qi)件(jian)工(gong)程(cheng)師(shi)或(huo)工(gong)藝(yi)工(gong)程(cheng)師(shi)能(neng)夠(gou)反(fan)複(fu)操(cao)作(zuo),把(ba)測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)迅(xun)速(su)轉(zhuan)換(huan)成(cheng)器(qi)件(jian)參(can)數(shu)。
測量高功率半導體器件的DC和電容參數要求足夠的專業知識,優化各種測量的精度。即使對擁有這種專業知識的工程師,管理開點狀態、關點狀態和電容-電壓(C-V)測量之間的設置變化仍可能會耗費大量時間,而且容易出錯。
這些挑戰在晶圓環境中尤其棘手。功率晶體管、FET或(huo)二(er)極(ji)管(guan)的(de)特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)包(bao)括(kuo)其(qi)典(dian)型(xing)輸(shu)出(chu)特(te)點(dian)圖(tu)。某(mou)些(xie)功(gong)率(lv)器(qi)件(jian)的(de)輸(shu)出(chu)特(te)點(dian)可(ke)能(neng)會(hui)有(you)幾(ji)十(shi)到(dao)幾(ji)百(bai)安(an)培(pei)。因(yin)此(ci),創(chuang)建(jian)這(zhe)些(xie)曲(qu)線(xian)要(yao)求(qiu)高(gao)流(liu)儀(yi)器(qi),如(ru)SMU (源測量單元)。在並行配置多個SMU時,它們會產生高達100A的脈衝電流,在管理線纜電阻和電感、以保證精確結果方麵會產生相應的挑戰。
在對功率半導體器件執行全麵的DC I-V和C-V測試時,為減少遇到的問題,許多工程師采用高功率接口麵板(圖3),最大限度地減少主要測量類型之間的連接變化。可以通過T型偏置進行I-V和C-V測量,而不需改變連接,從而減少用戶出錯的機會。

圖3.高功率接口麵板解決了晶圓器件測試的連接挑戰。
[圖示內容:]
Model 8020 High Power Interface Panel: Model 8020高功率接口麵板
Manages: 管理
Series resistors: 串聯電阻器
High voltage bias tees: 高壓T型偏置
Overvoltage protecTIon: 過壓保護
Cabling differences between measurements: 測量之間的線纜差異
Connector interface to probe staTIons and fixtures: 連接器到探頭站和夾具的接口
器件準備投產
為讓器件正確準備投產,生產測試工程師必須證明能否可靠地生產器件。必須收集測量數據,獲得器件技術數據的統計結果;bixuyouhuaceshishijian,manzuyaoqiudeshengchantuntuliang。duizhexieyingyong,duogongnengyiqiweixunsuhuodeceliangshujutigonglezuijiatujing,bingshilianjiebianhuahekaiguandadaozuixiao。
SMUs是經驗證可以用於半導體應用的多功能儀器。增加測試腳本的SMU儀器可以改善吞吐量,因為其實現了緊密同步,內置複雜運算處理器,在儀器內部執行決策,從而最大限度地縮短了通信時間。SMUs儀器可以用於參數曲線示圖儀配置中,實現交互測試及自動生產測試。其提供了自動軟件(圖4),同時融合了先進的半導體測試功能以及控製、數據報告和統計功能。

圖4.測試軟件把器件和測試與站點和子站對應起來,而不需要為每個子站重複每項測試,縮短了測試開發時間。
滿足可靠性標準
為確定器件滿足商用可靠性標準,可靠性測試工程師擔負著多項職責:
· 確定器件能否承受環境壓力,持續滿足規範
· 回答客戶與器件生命周期有關的問題(MTBF, MTTF)
· 提供關鍵信息,確定器件是否適合特定的高可靠性應用,包括軍事/國防、航空和汽車
創建統計相關結果要求足夠的測試器件樣本數量。對多個器件進行壓力測量,要求多通道並行測試及自動評估數據。
zongheceshixitongyibanyongyuzheleiyingyong,kejinxingdingzhi,shiyinggezhongyingyonghuanjing。zhexiexitongshiyongruanjiankongzhi,xunhuanzhixingyaliceliang,zhidingzonghejuece。shichangshangyougezhongdianyuanheSMU儀器解決方案,可以為任意數量的器件同時供電和進行測試。
在實際設計中實現器件
yidanyanzhengleqijian,jiukeyizhunbeitourushangyong。yonghubixujianyanqijianweiyuyingyongderongxianfanweinei,baozhengzuizhongchanpinshixianyujidegonglvxiaolv。zaiqijianchengshu,congduojiagongyingshanggonghuoshi,gonglvqijianxiaofeizheyaoxunsujiancenadaodeqijian,shibiehexiaochujiamaochanpin,bimianzuizhongchanpinzhongqianzaidewenti。
這時使用的測試儀器有:為基本電路板供電的可編程電源,功率分析儀,配備功率分析模塊及高壓探頭、電流探頭和差分探頭的示波器。功率分析儀用來評估整個最終產品性能。示波器可以分析開關損耗、諧波和安全操作區。
診斷器件故障
guzhangfenxigongchengshibixuquedingguzhangshiyouzuizhongchanpinshiyongyinqide,haishiyouyiqianloudiaodeshejiwentiyinqide。yidanzuochuzhezhongjueding,namezaishejihegongyigongchengzhongbixuzhidaoguzhangyuanyin,congerkeyishishigongyibianhuahuoshejibianhua,fangzhijianglaizaicichuxianguzhang。
能neng夠gou迅xun速su測ce量liang器qi件jian技ji術shu數shu據ju非fei常chang重zhong要yao,包bao括kuo靜jing態tai數shu據ju和he動dong態tai數shu據ju。要yao模mo仿fang最zui終zhong應ying用yong,以yi複fu現xian故gu障zhang。擁yong有you跟gen蹤zong模mo式shi的de參can數shu曲qu線xian示shi圖tu儀yi可ke以yi執zhi行xing這zhe類lei分fen析xi工gong作zuo。內nei置zhi壓ya力li測ce試shi測ce量liang的de軟ruan件jian工gong具ju可ke以yi複fu現xian導dao致zhi器qi件jian性xing能neng劣lie化hua的de情qing況kuang。
小結
從cong始shi至zhi終zhong,測ce試shi和he測ce量liang在zai把ba新xin功gong率lv半ban導dao體ti器qi件jian帶dai到dao市shi場chang,並bing使shi其qi適shi應ying客ke戶hu應ying用yong,發fa現xian問wen題ti來lai源yuan中zhong發fa揮hui著zhe重zhong要yao作zuo用yong。了le解jie整zheng個ge產chan品pin開kai發fa周zhou期qi及ji各ge階jie段duan的de測ce試shi挑tiao戰zhan有you助zhu於yu保bao證zheng整zheng個ge設she計ji流liu程cheng平ping滑hua運yun行xing。
特別推薦
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
技術文章更多>>
- 貿澤EIT係列新一期,探索AI如何重塑日常科技與用戶體驗
- 算力爆發遇上電源革新,大聯大世平集團攜手晶豐明源線上研討會解鎖應用落地
- 創新不止,創芯不已:第六屆ICDIA創芯展8月南京盛大啟幕!
- AI時代,為什麼存儲基礎設施的可靠性決定數據中心的經濟效益
- 矽典微ONELAB開發係列:為毫米波算法開發者打造的全棧工具鏈
技術白皮書下載更多>>
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索




