中心議題：

• 改進電路設計規程提高可測試性
• 分析良好的可測試性的機械接觸條件

解決方案：

• 通過遵守規程可減少生產測試的費用
• 采用新的測試方法和采用創新性適配器解決方案

隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術也取得巨大發展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這zhe些xie僅jin是shi其qi中zhong的de兩liang個ge例li子zi。電dian子zi元yuan件jian的de布bu線xian設she計ji方fang式shi

，對dui以yi後hou製zhi作zuo流liu程cheng中zhong的de測ce試shi能neng否fou很hen好hao進jin行xing，影ying響xiang越yue來lai越yue大da。下xia麵mian介jie紹shao幾ji種zhong重zhong要yao規gui則ze及ji實shi用yong提ti示shi。

通過遵守一定的規程（DFT-Design for Testability，可測試的設計）
，可ke以yi大da大da減jian少shao生sheng產chan測ce試shi的de準zhun備bei和he實shi施shi費fei用yong。這zhe些xie規gui程cheng已yi經jing過guo多duo年nian發fa展zhan
，當dang然ran，若ruo采cai用yong新xin的de生sheng產chan技ji術shu和he元yuan件jian技ji術shu，它ta們men也ye要yao相xiang應ying的de擴kuo展zhan和he適shi應ying。隨sui著zhe電dian子zi產chan品pin結jie構gou尺chi寸cun越yue來lai越yue小xiao，目mu前qian出chu現xian了le兩liang個ge特te別bie引yin人ren注zhu目mu的de問wen題ti：一是可接觸的電路節點越來越少
；二是像在線測試（In-Circuit-Test）這(zhe)些(xie)方(fang)法(fa)的(de)應(ying)用(yong)受(shou)到(dao)限(xian)製(zhi)。為(wei)了(le)解(jie)決(jue)這(zhe)些(xie)問(wen)題(ti)，可(ke)以(yi)在(zai)電(dian)路(lu)布(bu)局(ju)上(shang)采(cai)取(qu)相(xiang)應(ying)的(de)措(cuo)施(shi)，采(cai)用(yong)新(xin)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)和(he)采(cai)用(yong)創(chuang)新(xin)性(xing)適(shi)配(pei)器(qi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。第(di)二(er)個(ge)問(wen)題(ti)的(de)解(jie)決(jue)還(hai)涉(she)及(ji)到(dao)使(shi)原(yuan)來(lai)作(zuo)為(wei)獨(du)立(li)工(gong)序(xu)使(shi)用(yong)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)承(cheng)擔(dan)附(fu)加(jia)任(ren)務(wu)。這(zhe)些(xie)任(ren)務(wu)包(bao)括(kuo)通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)對(dui)存(cun)儲(chu)器(qi)組(zu)件(jian)進(jin)行(xing)編(bian)程(cheng)或(huo)者(zhe)實(shi)行(xing)集(ji)成(cheng)化(hua)的(de)元(yuan)器(qi)件(jian)自(zi)測(ce)試(shi)（Built-in Self Test
，BIST

，內建的自測試）。將jiang這zhe些xie步bu驟zhou轉zhuan移yi到dao測ce試shi係xi統tong中zhong去qu，總zong起qi來lai看kan，還hai是shi創chuang造zao了le更geng多duo的de附fu加jia價jia值zhi。為wei了le順shun利li地di實shi施shi這zhe些xie措cuo施shi，在zai產chan品pin科ke研yan開kai發fa階jie段duan，就jiu必bi須xu有you相xiang應ying的de考kao慮lv。

1、什麼是可測試性

可測試性的意義可理解為：測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種元件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是：

• 檢測產品是否符合技術規範的方法簡單化到什麼程度
  ？
• 編製測試程序能快到什麼程度？
• 發現產品故障全麵化到什麼程度？
• 接入測試點的方法簡單化到什麼程度？

weiledadaolianghaodekeceshibixukaolvjixiefangmianhedianqifangmiandeshejiguicheng。dangran
，yaodadaozuijiadekeceshixing，xuyaofuchuyidingdaijia，danduizhenggegongyiliuchenglaishuo，tajuyouyixiliedehaochu，yincishichanpinnengfouchenggongshengchandezhongyaoqianti。

2、為什麼要發展測試友好技術

過(guo)去(qu)，若(ruo)某(mou)一(yi)產(chan)品(pin)在(zai)上(shang)一(yi)測(ce)試(shi)點(dian)不(bu)能(neng)測(ce)試(shi)，那(na)麼(me)這(zhe)個(ge)問(wen)題(ti)就(jiu)被(bei)簡(jian)單(dan)地(di)推(tui)移(yi)到(dao)直(zhi)一(yi)個(ge)測(ce)試(shi)點(dian)上(shang)去(qu)。如(ru)果(guo)產(chan)品(pin)缺(que)陷(xian)在(zai)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)中(zhong)不(bu)能(neng)發(fa)現(xian)
，則(ze)此(ci)缺(que)陷(xian)的(de)識(shi)別(bie)與(yu)診(zhen)斷(duan)也(ye)會(hui)簡(jian)單(dan)地(di)被(bei)推(tui)移(yi)到(dao)功(gong)能(neng)和(he)係(xi)統(tong)測(ce)試(shi)中(zhong)去(qu)。

xiangfandi，jintianrenmenshitujinkenengtiqianfaxianquexian
，tadehaochubujinjinshichengbendi
，gengzhongyaodeshijintiandechanpinfeichangfuza
，mouxiezhizaoquexianzaigongnengceshizhongkenenggenbenjianzhabuchulai。lirumouxieyaoyuxianzhuangruanjianhuobianchengdeyuanjian

，jiucunzaizheyangdewenti。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable Devices係統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研製開發階段就計劃好
，而測試係統也必須掌握這種編程。

ceshiyouhaodedianlushejiyaofeiyixieqian
，raner
，ceshikunnandedianlushejifeideqianhuigengduo。ceshibenshenshiyouchengbende，ceshichengbensuizheceshijishudezengjiaerjiada；congzaixianceshidaogongnengceshiyijixitongceshi，ceshifeiyongyuelaiyueda。ruguotiaoguoqizhongyixiangceshi，suohaofeiyongshenzhihuigengda。yibandeguizeshimeizengjiayijiceshifeiyongdezengjiaxishushi10倍。通過測試友好的電路設計

，可以及早發現故障

，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。

3、文件資料怎樣影響可測試性

隻zhi有you充chong分fen利li用yong元yuan件jian開kai發fa中zhong完wan整zheng的de數shu據ju資zi料liao，才cai有you可ke能neng編bian製zhi出chu能neng全quan麵mian發fa現xian故gu障zhang的de測ce試shi程cheng序xu。在zai許xu多duo情qing況kuang下xia，開kai發fa部bu門men和he測ce試shi部bu門men之zhi間jian的de密mi切qie合he作zuo是shi必bi要yao的de。文wen件jian資zi料liao對dui測ce試shi工gong程cheng師shi了le解jie元yuan件jian功gong能neng，製zhi定ding測ce試shi戰zhan略lve，有you無wu可ke爭zheng議yi的de影ying響xiang。

weileraokaiquefawenjianhebushenlejieyuanjiangongnengsuochanshengdewenti，ceshixitongzhizaoshangkeyiyikaoruanjiangongju，zhexiegongjuanzhaosuijiyuanzezidongchanshengceshimoshi，huozheyikaofeishiliangxiangbi，feishiliangfangfazhinengsuanzuoyizhongquanyidejiejuebanfa。
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測試前的完整的文件資料包括零件表
，電路設計圖數據（主要是CAD數據）以及有關務元件功能的詳細資料（如數據表）。隻有掌握了所有信息
，才可能編製測試矢量，定義元件失效樣式或進行一定的預調整。

某mou些xie機ji械xie方fang麵mian的de數shu據ju也ye是shi重zhong要yao的de
，例li如ru那na些xie為wei了le檢jian查zha組zu件jian的de焊han接jie是shi否fou良liang好hao及ji定ding位wei是shi否fou所suo需xu要yao的de數shu據ju。最zui後hou，對dui於yu可ke編bian程cheng的de元yuan件jian
，如ru快kuai閃shan存cun儲chu器qi，PLD、FPGA等(deng)
，如(ru)果(guo)不(bu)是(shi)在(zai)最(zui)後(hou)安(an)裝(zhuang)時(shi)才(cai)編(bian)程(cheng)

，是(shi)在(zai)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)上(shang)就(jiu)應(ying)編(bian)好(hao)程(cheng)序(xu)的(de)話(hua)
，也(ye)必(bi)須(xu)知(zhi)道(dao)各(ge)自(zi)的(de)編(bian)程(cheng)數(shu)據(ju)。快(kuai)閃(shan)元(yuan)件(jian)的(de)編(bian)程(cheng)數(shu)據(ju)應(ying)完(wan)整(zheng)無(wu)缺(que)。如(ru)快(kuai)閃(shan)芯(xin)片(pian)含(han)16Mbit的數據，就應該可以用到16Mbit，這樣可以防止誤解和避免地址衝突。例如
，如果用一個4Mbit存儲器向一個元件僅僅提供300Kbit數據，就可能出現這種情況。當然數據應準備成流行的標準格式，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S記錄結構等。大多數測試係統，隻要能夠對快閃或ISP元yuan件jian進jin行xing編bian程cheng，是shi可ke以yi解jie讀du這zhe些xie格ge式shi的de。前qian麵mian所suo提ti到dao的de許xu多duo信xin息xi，其qi中zhong許xu多duo也ye是shi元yuan件jian製zhi造zao所suo必bi須xu的de。當dang然ran，在zai可ke製zhi造zao性xing和he可ke測ce試shi性xing之zhi間jian應ying明ming確que區qu別bie，因yin為wei這zhe是shi完wan全quan不bu同tong的de概gai念nian，從cong而er構gou成cheng不bu同tong的de前qian提ti。

4、良好的可測試性的機械接觸條件

如ru果guo不bu考kao慮lv機ji械xie方fang麵mian的de基ji本ben規gui則ze，即ji使shi在zai電dian氣qi方fang麵mian具ju有you非fei常chang良liang好hao的de可ke測ce試shi性xing的de電dian路lu，也ye可ke能neng難nan以yi測ce試shi。許xu多duo因yin素su會hui限xian製zhi電dian氣qi的de可ke測ce試shi性xing。如ru果guo測ce試shi點dian不bu夠gou或huo太tai小xiao
，探tan針zhen床chuang適shi配pei器qi就jiu難nan以yi接jie觸chu到dao電dian路lu的de每mei個ge節jie點dian。如ru果guo測ce試shi點dian位wei置zhi誤wu差cha和he尺chi寸cun誤wu差cha太tai大da
，就jiu會hui產chan生sheng測ce試shi重zhong複fu性xing不bu好hao的de問wen題ti。在zai使shi用yong探tan針zhen床chuang配pei器qi時shi，應ying留liu意yi一yi係xi列lie有you關guan套tao牢lao孔kong與yu測ce試shi點dian的de大da小xiao和he定ding位wei的de建jian議yi

5、最佳可測試性的電氣前提條件

dianqiqiantitiaojianduilianghaodekeceshixing，hejixiejiechutiaojianyiyangzhongyao，liangzhequeyibuke。yigemendianlubunengjinxingceshi
，yuanyinkenengshiwufatongguoceshidianjiechudaoqidongshuruduan，yekenengshiqidongshuruduanchuzaifengzhuangkenei

，waibuwufajiechu，zaiyuanzeshangzheliangqingkuangtongyangdoushibuhaode，doushiceshiwufajinxing。zaishejidianlushiyinggaizhuyi
，fanshiyaoyongzaixianceshifajiancedeyuanjian，douyinggaijubeimouzhongjili，shigegeyuanjiannenggouzaidianqishangjueyuanqilai。zhezhongjilikeyijiezhuyujinzhishuruduanlaishixian，takeyijiangyuanjiandeshuchuduankongzhizaijingtaidegaooumuzhuangtai。

雖然幾乎所有的測試係統都能夠逆驅動（Backdriving）方式將某一節點的狀態帶到任意狀態，但是所涉及的節點最好還是要備有禁止輸入端
，首先將此節點帶到高歐姆狀態，然後再“平緩地”加上相應的電平。

同樣，節拍發生器總是通過啟動引線，門電路或插接電橋從振蕩器後麵直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100歐ou姆mu的de電dian阻zu與yu電dian路lu連lian接jie。每mei個ge元yuan件jian應ying有you自zi己ji的de啟qi動dong，複fu位wei或huo控kong製zhi引yin線xian腳jiao。必bi須xu避bi免mian許xu多duo元yuan件jian的de啟qi動dong輸shu入ru端duan共gong用yong一yi個ge電dian阻zu與yu電dian路lu相xiang連lian。這zhe條tiao規gui則ze對dui於yuASIC元yuan件jian也ye適shi用yong，這zhe些xie元yuan件jian也ye應ying有you一yi個ge引yin線xian腳jiao
，通tong過guo它ta，可ke將jiang輸shu出chu端duan帶dai到dao高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。如ru果guo元yuan件jian在zai接jie通tong工gong作zuo電dian壓ya時shi可ke實shi行xing複fu位wei
，這zhe對dui於yu由you測ce試shi器qi來lai引yin發fa複fu位wei也ye是shi非fei常chang有you幫bang助zhu的de。在zai這zhe種zhong情qing況kuang下xia，元yuan件jian在zai測ce試shi前qian就jiu可ke以yi簡jian單dan地di置zhi於yu規gui定ding的de狀zhuang態tai。

不(bu)用(yong)的(de)元(yuan)件(jian)引(yin)線(xian)腳(jiao)同(tong)樣(yang)也(ye)應(ying)該(gai)是(shi)可(ke)接(jie)觸(chu)的(de)

，因(yin)為(wei)在(zai)這(zhe)些(xie)地(di)方(fang)未(wei)發(fa)現(xian)的(de)短(duan)路(lu)也(ye)可(ke)能(neng)造(zao)成(cheng)元(yuan)件(jian)故(gu)障(zhang)。此(ci)外(wai)
，不(bu)用(yong)的(de)門(men)電(dian)路(lu)往(wang)往(wang)在(zai)以(yi)後(hou)會(hui)被(bei)利(li)用(yong)於(yu)設(she)計(ji)改(gai)進(jin)，它(ta)們(men)可(ke)能(neng)會(hui)改(gai)接(jie)到(dao)電(dian)路(lu)中(zhong)來(lai)。所(suo)以(yi)同(tong)樣(yang)重(zhong)要(yao)的(de)是(shi)
，它(ta)們(men)從(cong)一(yi)開(kai)始(shi)就(jiu)應(ying)經(jing)過(guo)測(ce)試(shi)，以(yi)保(bao)證(zheng)其(qi)工(gong)件(jian)可(ke)靠(kao)。