時間：2011年7月26日 10:00 - 12:00

本次研討會我們將討論影響示波器測量準確度的一係列因素：半導體器件本身的影響因素如DC增益，偏置，非線性度，頻響曲線的線性度，通道之間的匹配，量化誤差等; 測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)特(te)別(bie)是(shi)探(tan)頭(tou)的(de)因(yin)素(su)，如(ru)探(tan)頭(tou)的(de)地(di)線(xian)
，探(tan)頭(tou)的(de)負(fu)載(zai)效(xiao)應(ying)
，探(tan)頭(tou)擺(bai)放(fang)的(de)位(wei)置(zhi)，地(di)環(huan)路(lu)的(de)幹(gan)擾(rao)等(deng)以(yi)及(ji)算(suan)法(fa)本(ben)身(shen)的(de)影(ying)響(xiang)因(yin)素(su)。這(zhe)些(xie)影(ying)響(xiang)因(yin)素(su)中(zhong)，最(zui)關(guan)鍵(jian)的(de)也(ye)是(shi)最(zui)大(da)的(de)一(yi)個(ge)影(ying)響(xiang)因(yin)素(su)是(shi)量(liang)化(hua)誤(wu)差(cha)。 力科的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的(de)高(gao)精(jing)度(du)示(shi)波(bo)器(qi)能(neng)夠(gou)減(jian)小(xiao)量(liang)化(hua)誤(wu)差(cha)的(de)影(ying)響(xiang)，提(ti)供(gong)更(geng)高(gao)的(de)信(xin)噪(zao)比(bi)，更(geng)大(da)的(de)動(dong)態(tai)範(fan)圍(wei)，給(gei)測(ce)量(liang)帶(dai)來(lai)更(geng)高(gao)的(de)測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度(du)
，因(yin)此(ci)在(zai)一(yi)係(xi)列(lie)的(de)應(ying)用(yong)中(zhong)帶(dai)來(lai)了(le)獨(du)特(te)的(de)價(jia)值(zhi)
，如(ru)小(xiao)電(dian)壓(ya)信(xin)號(hao)的(de)測(ce)量(liang)
，大(da)電(dian)壓(ya)信(xin)號(hao)中(zhong)的(de)局(ju)部(bu)小(xiao)信(xin)號(hao)測(ce)量(liang)
，更(geng)精(jing)確(que)的(de)FFT測量

，相位噪聲測量等。

通過本次研討會，您不僅可以了解到那些因素會影響到示波器的測量精度，同時您也將了解到示波器業內唯一具有12位ADC的高精度實時數字示波器--力科的WaveRunner HRO 6Zi的測量精確度以及其在傳感器係統、醫療係統、射頻調製係統、電源測量係統中的應用。

歡迎您的參與！舉辦網址：http://webcast.ednchina.com/529/Content.aspx