行業事件：

• NI發布2009年測試與測量發展趨勢
  

行業影響：

2009年將極大改進測試測量係統效率的三大趨勢

• 軟件定義的儀器係統
• 並行處理技術以及無線
• 半導體測試新方法

如今全球經濟現狀對於預算成本有著嚴格的限製，測試工程師現今麵臨的挑戰將是如何尋找更高效的測試方法。美國國家儀器有限公司（National Instruments

，簡稱NI），作為全球測試測量行業的領導者，指出2009年將極大改進測試測量係統效率的三大趨勢

• 軟件定義的儀器係統
• 並行處理技術以及無線
• 半導體測試新方法

它們將幫助工程師在減少測試總成本的條件下，開發更快、更靈活的自動化測試係統；全球各公司以及所有的工業部門都將認識到通過使用這些方法和技術而獲得的巨大優勢。

“xianjinburongleguandequanqiujingjixianzhuangshideyuelaiyueduodegongsixunqiuxianyouceshigongchengjishudetidaipin。gongchengshimenzhujianqingxiangyujiezhuyuyiruanjiandingyideyiqixitonghezuixinshangyejishu
，zaijianshaoceshizongchengbendetiaojianxiahuodegenggaoxingnenghelinghuoxingdexiaoguo。”——NI市場部（測試與測量）副總裁 Eric Starkloff

軟件定義儀器係統的廣泛應用將是2009年測試測量的最重要的發展趨勢。通過使用軟件定義的儀器係統，工程師們可以在測試係統中使用諸如多核處理、現場可編程門陣列(FPGA)dengzuixinjishu，yimanzuwuxianhexieyiganzhiceshidengxinyingyongdexuqiu，binghuodegenghaodeceshishuipingtongshijiangdiceshichengben。tongguozaixiangmuzhongcaiyongruanjiandingyideyiqixitongsuohuodedekuaisuzibenhuibaozaizhenggexitonglianzhongdoushifeichangxianzhude。

軟件定義儀器係統的發展
ruanjiandingyideyiqixitongyechengzuoxuniyiqi，baohanlemokuaihuayingjianheyonghuzidingyideruanjian，shigongchengshikeyitongguotongyongyingjianmokuaijiangbiaozhunyiqiyubaohanshujuchulideyonghuzidingyideceshishebeizhengheqilai。duiyumouxiedianzishebei，ruxiayidaidaohangxitongyijijichengbutonggongnengbingnengkuaisuyingyongxintongxinxieyidezhinengdianhua
，yiqidelinghuoxingjiuxiandeyouweizhongyao。liyongruanjiandingyideyiqixitong，gongchengshikeyitongguogengxinruanjiansuanfa，kuaisuduiceshishebeijinxingzhongxinpeizhi，yimanzubuduangaibiandeceshixuqiu。

得益於它的靈活性以及高性價比，數以千計的公司如今正采用基於NI LabVIEW圖形化開發平台和開放式的、多廠商支持的PXI硬件標準為基礎的軟件定義的儀器係統。根據PXI係統聯盟（PXI Systems Alliance）的統計，至2009年末
，將有超過100, 000 台PXI係統用於各個項目，並在未來10年內
，這個數字將有希望翻倍。

“開放式、模塊化架構的自定義的儀器係統，如PXI係統儀器，已被證實使廣泛的工業領域受益。同時
，預計至2014年，PXI在測量與自動化領域的營利將有望一直保持17.6%的複合年增長率(CAGR)。PXI平台所帶來的高性能已在諸如雷達測試的射頻應用，移動電話測試以及利用其他儀器無法測試的無線應用中得到具體體現。”——Jessy Cavazos Frost & Sullivan公司測試與測量行業經理

日益增長的並行技術應用
多(duo)核(he)技(ji)術(shu)如(ru)今(jin)已(yi)成(cheng)為(wei)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)的(de)一(yi)個(ge)標(biao)準(zhun)特(te)性(xing)，同(tong)時(shi)也(ye)是(shi)如(ru)今(jin)電(dian)子(zi)設(she)備(bei)應(ying)對(dui)海(hai)量(liang)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)所(suo)不(bu)可(ke)或(huo)缺(que)的(de)技(ji)術(shu)。軟(ruan)件(jian)定(ding)義(yi)的(de)儀(yi)器(qi)係(xi)統(tong)充(chong)分(fen)利(li)用(yong)最(zui)新(xin)多(duo)核(he)技(ji)術(shu)以(yi)及(ji)高(gao)速(su)數(shu)據(ju)總(zong)線(xian)來(lai)生(sheng)成(cheng)、捕捉、分析和處理電子設備設計和測試所需的千兆（gigabyte）級的數據。傳統的基於文本的編程環境不能無縫支持並行、同時需要進行複雜的底層編程技巧，因此在多核編程方麵麵臨巨大挑戰。然而，測試工程師可以通過擁有天生並行編程環境的LabVIEW
，自動地在多個計算機核中分配多線程應用以獲取高性能和高吞吐量，快速體驗多核技術的好處。

另一個軟件定義儀器係統所廣泛應用的領域是係統級FPGA開發工具的應用。如今許多新的模塊化儀器都是帶有FPGA的，近幾年推出的一些模塊更是具備了高性能的Xilinx Virtex-5 FPGA。這些以FPGA為基礎的儀器能夠幫助測試工程師以更快速度實現相比以往更複雜的數字信號處理算法。LabVIEW可以使測試工程師無需具備VHDL的經驗即可在FPGA上進行編程

，這使得FPGA的高性能不僅僅局限於少部分具備充分數字設計經驗的硬件工程師。

無線測試和協議感知（Protocol-Aware）測試的迅速擴展
除chu了le上shang述shu的de新xin興xing技ji術shu發fa展zhan，軟ruan件jian定ding義yi的de儀yi器qi係xi統tong已yi被bei證zheng實shi是shi諸zhu如ru無wu線xian測ce試shi和he協xie議yi感gan知zhi測ce試shi等deng快kuai速su發fa展zhan領ling域yu的de理li想xiang的de選xuan擇ze。比bi如ru，某mou些xie用yong戶hu電dian子zi設she備bei
，如ru移yi動dong電dian話hua和he汽qi車che內nei置zhi娛yu樂le係xi統tong
，通tong常chang整zheng合he多duo個ge通tong信xin協xie議yi和he標biao準zhun，如ruGPS

，WiMAX, WLAN等。使用傳統儀器的測試工程師需要等待統一主導的標準出現後，再由供應商開發出一款專用的

、獨(du)立(li)的(de)台(tai)式(shi)儀(yi)器(qi)來(lai)測(ce)試(shi)此(ci)標(biao)準(zhun)。然(ran)而(er)，利(li)用(yong)軟(ruan)件(jian)定(ding)義(yi)的(de)儀(yi)器(qi)係(xi)統(tong)
，無(wu)需(xu)等(deng)待(dai)新(xin)推(tui)出(chu)的(de)無(wu)線(xian)標(biao)準(zhun)成(cheng)熟(shu)
，工(gong)程(cheng)師(shi)們(men)即(ji)可(ke)使(shi)用(yong)通(tong)用(yong)的(de)模(mo)塊(kuai)化(hua)硬(ying)件(jian)，應(ying)用(yong)用(yong)戶(hu)自(zi)定(ding)義(yi)的(de)無(wu)線(xian)協(xie)議(yi)和(he)算(suan)法(fa)對(dui)多(duo)種(zhong)無(wu)線(xian)標(biao)準(zhun)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)。

此外
，半導體行業中複雜的片上係統(SoCs)和係統級封裝(SiPs)的出現，使得對於協議感知ATEhuozhetongguofangzhenzhenshixinhaobinglianjiexinpiandeceshixitongdexuqiubiandeyuelaiyueda。zhenduibandaoticeshidebuduanzengjiadexuqiuyijijianshaoceshizongchengbendequshi，gongyezuzhirubandaoticeshilianmeng(Semiconductor Test Consortium)和半導體測試合作聯盟（Collaborative Alliance for Semiconductor Test）正在致力於創建一種開放式的測試架構標準
，使得工程師能夠將模塊化、軟件定義的儀器係統（如PXI）集成到傳統的半導體ATE中。通過在半導體測試係統中使用軟件定義的、基於FPGA的模塊化儀器
，工程師們可以利用傳統ATE中常用到的標準電路引腳來獲取實時反饋，並通過更合適的使用規範來降低測試總成本，以及提高用戶的調試能力。