寬禁帶半導體仿真模型驗證 – 第三部分
發布時間:2021-08-02 來源:James Victory 責任編輯:wenwei
【導讀】今jin天tian,我wo們men將jiang完wan成cheng我wo們men關guan於yu寬kuan禁jin帶dai生sheng態tai係xi統tong的de第di三san部bu分fen係xi列lie文wen章zhang。在zai第di一yi部bu分fen,我wo們men聚ju焦jiao物wu理li可ke擴kuo展zhan的de模mo型xing,第di二er部bu分fen,我wo們men重zhong點dian介jie紹shao我wo們men的de碳tan化hua矽gui功gong率lvMOSFET模型的某些方麵。在這博客係列的第三部分,我們將聚焦模型驗證。

圖1
我們首先在上麵的圖1中顯示輸出電流-dianyatexing。gaimoxingzhunquediyucelezhenggepianzhifanwei,baokuogaomenjichudepiaoyiquheloujipiancha。youbiantuzhongjingquedechuandaofangzhentuchulemoxingdelianxuxing,zheduiyuqianggudeshoulianxingnengfeichangzhongyao。chulexianxingdifaxianyinzangdebuzhunquehebulianxuzhiwai,womenhaichangyiduishubiaoduguancha。

圖2
在圖2中,我們顯示了在寬溫度範圍內電流電壓、RDSon和閾值電壓的結果。SiC MOSFET器件由於其穩定的溫度性能而非常有吸引力。寬溫度範圍的高精度建模使設計師能夠充分利用這一品質。

圖3
在本係列博客的第一部分中,我們介紹了複雜器件電容的物理模型。結果如圖3所示。在左邊,CRSS(或CGD)仿真跟蹤超過兩個以上數量級數據的多重變化,隻在一個對數標度上可見。

圖4
通過精確建模的固有電容和器件布板寄生值,就可以得出開關結果,如圖4所示,不需要額外的模型精調。這保真度水平使應用設計人員有信心精確仿真器件電路相互影響,如dV/dt、dI/dt、開關損耗和電磁幹擾(EMI)。還可研究和優化門極驅動器和電源回路的相互作用。
滿足客戶多樣化的仿真平台需求對我們很重要。因此,SPICE不可知論的方法至關重要。不可知論法意思是在行業標準仿真軟件中隻使用最小公分母結構,避免依賴仿真器的專有方案。
安森美半導體提供一係列先進的寬禁帶器件和仿真環境。這完整的陣容構成一個生態係統,使我們的客戶能夠充分實現新的、令人興奮的寬禁帶應用和係統的潛力。
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