晶(jing)片(pian)級(ji)射(she)頻(pin)測(ce)量(liang)係(xi)統(tong)的(de)選(xuan)定(ding)和(he)配(pei)置(zhi)是(shi)一(yi)項(xiang)費(fei)時(shi)費(fei)力(li)的(de)工(gong)作(zuo)，客(ke)戶(hu)通(tong)常(chang)需(xu)要(yao)對(dui)多(duo)個(ge)供(gong)應(ying)商(shang)提(ti)供(gong)的(de)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)進(jin)行(xing)現(xian)場(chang)配(pei)置(zhi)與(yu)驗(yan)證(zheng)，並(bing)且(qie)必(bi)須(xu)為(wei)初(chu)次(ci)測(ce)量(liang)預(yu)留(liu)更(geng)久(jiu)的(de)設(she)置(zhi)時(shi)間(jian)。借(jie)助(zhu)安(an)捷(jie)倫(lun)與(yu) Cascade Microtech聯合推出的晶片級測量解決方案（WMS），半導體客戶現在能夠使用適當的設備執行精確
、可重複的直流和射頻測量以及器件表征和建模，以便顯著縮短初次測量設置時間。

最新的晶片級測量解決方案整合了 Cascade Microtech 的晶圓探針台、探tan針zhen和he校xiao準zhun工gong具ju以yi及ji安an捷jie倫lun測ce試shi儀yi器qi和he測ce量liang分fen析xi軟ruan件jian


，將jiang會hui為wei半ban導dao體ti測ce試shi帶dai來lai深shen遠yuan影ying響xiang。每mei種zhong解jie決jue方fang案an配pei置zhi在zai出chu廠chang前qian均jun已yi通tong過guo預yu先xian驗yan證zheng，以yi滿man足zu客ke戶hu的de特te定ding應ying用yong需xu求qiu，在zai Cascade Microtech 解決方案專家安裝完畢後，可根據之前商定的驗收標準再次驗證配置。安捷倫或 Cascade Microtech 承諾免費填補解決方案缺失的任何部件，以確保客戶享受有保障的配置。

另外，在 Agilent WaferPro-XP 測量軟件的基礎上


，安捷倫和 Cascade Microtech 共同開發了獨特的工作流程解決方案軟件。加上 Cascade Microtech 的 Velox 探針台軟件，客戶現在可以開發出適合多種測量需求的全麵晶圓測試套件（例如，S 參數、DC-IV/CV
、噪聲係數、閃變噪聲和增益壓縮）。這種組合軟件為測試開發提供了相幹環境。

每個晶片級測量解決方案均配有完善的支持套件
，並且允許客戶聯係經驗豐富的區域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。Cascade Microtech 提供單點聯係方式，幫助客戶迅速解決問題。

 

 

安捷倫副總裁兼元器件測試事業部總經理 Gregg Peters 表示：“安捷倫和 Cascade Microtech zuoweiceshiceliangxingyehejingyuanshangtancelingyudequanqiulingdaozhe，tamenyongyoujingshendezhuanyejishuhefengfudechanpinshengchanxian，keyitigongyongyujingpianjiqijianceshidequanbugoujianmokuai。tongguoxietongdeziyuanhefangan，womenmianxiangshuangfanggongtongdebandaotikehushoucituichuledutedebutongyiwangdejingpianjiceliangjiejuefangan。”

 

Cascade Microtech 總裁兼首席運營官 Michael Burger 表示：“半導體製程的開發、建jian模mo和he表biao征zheng任ren務wu日ri趨qu複fu雜za化hua，而er產chan品pin上shang市shi周zhou期qi卻que在zai不bu斷duan縮suo減jian，客ke戶hu對dui測ce量liang精jing度du的de要yao求qiu也ye越yue來lai越yue嚴yan苛ke。我wo們men攜xie手shou安an捷jie倫lun開kai發fa了le值zhi得de信xin賴lai的de晶jing片pian級ji測ce量liang解jie決jue方fang案an，幫bang助zhu工gong程cheng師shi對dui半ban導dao體ti元yuan件jian和he器qi件jian執zhi行xing精jing確que
、快速的高級直流和射頻測量，以確保他們及時推出高質量的產品。”

安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發的晶片級射頻測量解決方案現在提供多種配置選擇
，從采用半自動或手動探針台的新的高度集成解決方案
、到在現有的探針台上進行特定應用硬件升級。新型 Agilent WaferPro-XP 測ce量liang軟ruan件jian平ping台tai適shi用yong於yu研yan發fa器qi件jian表biao征zheng，可ke與yu現xian有you的de晶jing片pian級ji測ce量liang解jie決jue方fang案an配pei合he使shi用yong。定ding價jia取qu決jue於yu客ke戶hu所suo選xuan擇ze的de解jie決jue方fang案an配pei置zhi。如ru欲yu了le解jie特te定ding定ding價jia和he銷xiao售shou信xin息xi
，請qing聯lian係xi您nin當dang地di的de安an捷jie倫lun現xian場chang工gong程cheng師shi或huo Cascade Microtech 銷售經理。

如欲了解安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發的晶片級測量解決方案，請訪問 www.agilent.com/find/wms 和 www.cascademicrotech.com/measureone。瀏覽圖像

，請訪問 www.agilent.com/find/wms_images。有關背景介紹，請訪問 www.agilent.com/find/wms_backgrounder。