第76屆中國電子展(上海) 羅德與施瓦茨的時頻分析藝術
發布時間:2010-10-29 來源:R&S
R&S的新聞事件:
2010年11月3至5日,在上海新國際博覽中心舉辦的第76屆中國電子展上,R&S公司將展示其全麵領先的時域和頻域測試與測量解決方案。
作為世界頂級的測試儀器、係統及方案提供商,R&S公司將展示R&S公司第一台實時數字示波器:R&S®RTO,它采用了很多創新設計,擁有極佳的信號保真度—業內最高的大於7位的動態有效位,極高的波形采集速度—高達每秒一百萬次的波形捕獲率,率先引入的數字觸發係統,具有硬件加速的測量和分析功能,同時帶有直觀高效的用戶界麵。
高性價比通用示波器R&S®RTM,性能優異,結構緊湊,是低速率模擬和數字電路測試和調試的理想工具。
與示波器同時推出的RT-ZS有源探頭係列具有兩大創新設計:集成了微型按扭,可以預設功能控製示波器;集成探頭電壓表,可以精確測量直流電壓。所有這些創新功能都將給用戶帶來全新的真正快樂的工作體驗。
創新的信號分析儀R&S®FSVR,集多功能信號分析和頻譜分析及實時頻譜分析於一體。它是擁有業界最高測量頻率的實時頻譜儀(30GHz),每秒250 000個頻譜處理能力,讓用戶能從新的視角觀察頻譜。頻譜瀑布圖,頻譜模板觸發,全息頻譜等實時功能更使任何信號都能輕鬆顯現。R&S® FSVR讓用戶以更少的投資獲取更多的信息,更是用戶應對各種測試與測量任務的得力工具。
此外,參觀者還將了解到R&S公司的“無需噪聲源的噪聲係數測量技術-R&S®ZVA-K30(R&S專利)”。該測量技術基於矢量網絡分析儀R&S®ZVA/ZVT平台上,高達67GHz測量頻率,具有更高測量精度,更簡單的測量方法;而且單台儀器上可同時測試16個被測件的噪聲係數,S參數與噪聲係數同時測量更是能夠輕鬆實現。
誠邀您親臨現場體驗。
時間:2010年11月3日至5日 地點:上海新國際博覽中心 3號館 3C012
- R&S公司參展第76屆中國電子展
- R&S公司展示時域和頻域測試與測量解決方案
- 為設計工程師帶來先進的技術
2010年11月3至5日,在上海新國際博覽中心舉辦的第76屆中國電子展上,R&S公司將展示其全麵領先的時域和頻域測試與測量解決方案。
作為世界頂級的測試儀器、係統及方案提供商,R&S公司將展示R&S公司第一台實時數字示波器:R&S®RTO,它采用了很多創新設計,擁有極佳的信號保真度—業內最高的大於7位的動態有效位,極高的波形采集速度—高達每秒一百萬次的波形捕獲率,率先引入的數字觸發係統,具有硬件加速的測量和分析功能,同時帶有直觀高效的用戶界麵。
高性價比通用示波器R&S®RTM,性能優異,結構緊湊,是低速率模擬和數字電路測試和調試的理想工具。
與示波器同時推出的RT-ZS有源探頭係列具有兩大創新設計:集成了微型按扭,可以預設功能控製示波器;集成探頭電壓表,可以精確測量直流電壓。所有這些創新功能都將給用戶帶來全新的真正快樂的工作體驗。
創新的信號分析儀R&S®FSVR,集多功能信號分析和頻譜分析及實時頻譜分析於一體。它是擁有業界最高測量頻率的實時頻譜儀(30GHz),每秒250 000個頻譜處理能力,讓用戶能從新的視角觀察頻譜。頻譜瀑布圖,頻譜模板觸發,全息頻譜等實時功能更使任何信號都能輕鬆顯現。R&S® FSVR讓用戶以更少的投資獲取更多的信息,更是用戶應對各種測試與測量任務的得力工具。
此外,參觀者還將了解到R&S公司的“無需噪聲源的噪聲係數測量技術-R&S®ZVA-K30(R&S專利)”。該測量技術基於矢量網絡分析儀R&S®ZVA/ZVT平台上,高達67GHz測量頻率,具有更高測量精度,更簡單的測量方法;而且單台儀器上可同時測試16個被測件的噪聲係數,S參數與噪聲係數同時測量更是能夠輕鬆實現。
誠邀您親臨現場體驗。
時間:2010年11月3日至5日 地點:上海新國際博覽中心 3號館 3C012
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