電路設計必知:電子元器件的故障特點
發布時間:2014-10-14 責任編輯:sherryyu
【導讀】工gong程cheng師shi都dou知zhi道dao電dian器qi設she備bei內nei部bu的de電dian子zi元yuan器qi件jian數shu量liang是shi不bu可ke小xiao覷qu的de,所suo以yi特te別bie害hai怕pa在zai電dian路lu設she計ji中zhong測ce試shi的de那na個ge環huan節jie,因yin為wei出chu錯cuo了le就jiu可ke能neng是shi某mou個ge電dian子zi元yuan器qi件jian出chu現xian故gu障zhang,很hen難nan排pai除chu。其qi實shi大da可ke不bu必bi害hai怕pa,電dian子zi元yuan器qi件jian雖sui然ran數shu量liang多duo,但dan其qi故gu障zhang卻que是shi有you規gui律lv可ke循xun的de。
電器設備內部的電子元器件雖然數量多,但其故障卻是有規律可循的。
1.電阻損壞的特點
電(dian)阻(zu)是(shi)電(dian)器(qi)設(she)備(bei)中(zhong)數(shu)量(liang)最(zui)多(duo)的(de)元(yuan)件(jian),但(dan)不(bu)是(shi)損(sun)壞(huai)率(lv)最(zui)高(gao)的(de)元(yuan)件(jian)。電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)以(yi)開(kai)路(lu)最(zui),阻(zu)值(zhi)變(bian)大(da)較(jiao)少(shao)見(jian),阻(zu)值(zhi)變(bian)小(xiao)十(shi)分(fen)少(shao)見(jian)。的(de)有(you)碳(tan)膜(mo)電(dian)阻(zu)、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣,其損壞的特點一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ)的損壞率較高,阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;二(er)是(shi)低(di)阻(zu)值(zhi)電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)時(shi)往(wang)往(wang)是(shi)燒(shao)焦(jiao)發(fa)黑(hei),很(hen)發(fa)現(xian),而(er)高(gao)阻(zu)值(zhi)電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)時(shi)很(hen)少(shao)有(you)痕(hen)跡(ji)。線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)用(yong)作(zuo)大(da)電(dian)流(liu)限(xian)流(liu),阻(zu)值(zhi)不(bu)大(da)。圓(yuan)柱(zhu)形(xing)線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)燒(shao)壞(huai)時(shi)有(you)的(de)會(hui)發(fa)黑(hei)或(huo)表(biao)麵(mian)爆(bao)皮(pi)、liewen,youdemeiyouhenji。shuinidianzushixianraodianzudeyizhong,shaohuaishihuiduanlie,fouzeyemeiyoukejianhenji。baoxiandianzushaohuaishiyoudebiaomianhuizhadiaoyikuaipi,youdeyemeiyoushenmehenji,danjuebuhuishaojiaofahei。genjutedian,zaijianzhadianzushikeyousuocezhong,kuaisuzhaochusunhuaidedianzu。
2.電解電容損壞的特點
電解電容在電器設備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現:
一是失去容量或容量變小;
二是輕微或嚴重漏電;
三是失去容量或容量變小兼有漏電。
查找損壞的電解電容方法有:
(1)看:有的電容損壞時會漏液,電容下麵的電路板表麵甚至電容外表都會有一層油漬,這種電容絕對不能再用;有的電容損壞後會鼓起,這種電容也不能繼續使用;因此,在前期選擇電容的時候,就應該把好質量關,盡量選擇知名品牌的電容,如電容巨頭——國巨電容。
(2)摸:開機後有些漏電嚴重的電解電容會發熱,用手指觸摸時甚至會燙手,這種電容更換;
(3)dianjiedianrongneibuyoudianjieye,changshijianhongkaohuishidianjieyebiangan,daozhidianrongliangjianxiao,yaozhongdianjianzhasanrepianjidagonglvyuanqijianfujindedianrong,liqiyuejin,sunhuaidexingjiuyueda。
3.二、三極管等半導體器件損壞的特點
二、三極管的損壞是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現:一是熱穩定性變差,表現為開機時正常,工作一段時間後,發生軟擊穿;另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測,各PN結均正常,但上機後不能正常工作,用R×10或R×1低量程檔測,就會發現其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在路測二、三極管的PN結正、反向電阻,正向電阻不太大(正常值),反向電阻足夠大(正向值),表明該PN結正常,反之就值得懷疑,需焊下後再測。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐,用萬用表低阻值檔在路測量,可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。
4.集成電路損壞的特點
集成電路內部結構,功能,一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反(fan)向(xiang)電(dian)阻(zu),總(zong)能(neng)找(zhao)到(dao)其(qi)中(zhong)一(yi)隻(zhi)或(huo)幾(ji)隻(zhi)引(yin)腳(jiao)阻(zu)值(zhi)異(yi)常(chang)。對(dui)熱(re)穩(wen)定(ding)性(xing)差(cha)的(de),可(ke)以(yi)在(zai)設(she)備(bei)工(gong)作(zuo)時(shi),用(yong)無(wu)水(shui)酒(jiu)精(jing)冷(leng)卻(que)被(bei)懷(huai)疑(yi)的(de)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu),故(gu)障(zhang)發(fa)生(sheng)時(shi)間(jian)推(tui)遲(chi)或(huo)不(bu)再(zai)發(fa)生(sheng)故(gu)障(zhang),判(pan)定(ding)。通(tong)常(chang)隻(zhi)能(neng)更(geng)換(huan)新(xin)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)來(lai)排(pai)除(chu)。
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