2015年2月27日 - 推動高能效創新的安森美半導體 (ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ONNN) 已成功示範其第二代相位檢測自動對焦 (PDAF) 技術以獨特的像素微鏡技術為特色，令在25勒克斯 (Lux) 光照水平下快速對焦。這種獨特的技術已成功實現在具備1.1微米(um)像素的1300萬像素(MP)測試芯片
，並將用於今年內為移動終端市場客戶作介紹的新品中。

 

傳統的智能手機自動對焦 (AF) 算法使用反差檢測測量和多幀來調整鏡頭焦距。這試錯法可以花超過1.2秒找到圖像焦點。安森美半導體的PDAF技術使用雙像素測量目標圖像的相位信息。這相位信息用作計算鏡頭對焦所需的移動方向及距離隻須少於0.3秒，視乎對焦致動器的速度。此外
，安森美半導體已實現一個獨特的像素微鏡結構，保持PDAF像素的靈敏度，並確保為PDAF捕獲足夠的光以在低至25 Lux的微光下工作(類似於一個燈光昏暗的房間)。市場上的競爭技術采用的方法在像素靈敏度和微光自動對焦性能方麵有所折中。

 

安森美半導體移動和消費分部副總裁Shung Chieh說：“安森美半導體的PDAF技術是像素和光學疊層設計創新的成果。這縮減了近1/4dezidongduijiaoshijian
，weiyidongshebeiyonghudailaijuejiadetiyan。womenjishushanglingxiandeweiguangnenglishizhinengshoujizhizaoshangnengrangtamendekehuzaisuoyouguangzhaoqingkuangxiakuaisuzidongduijiao。”

 

安森美將於2015年3月2日至5日在西班牙巴塞羅那舉行世界移動通信大會 (Mobile World Congress)
，展示其最新的圖像傳感器技術及產品。欲安排私人參觀公司圖像傳感器的現場演示，請聯係您的安森美半導體銷售代表。

 

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