如何解決電源常見應用問題--機殼開關電源篇
發布時間:2020-11-09 責任編輯:lina
【導讀】上一期我們向大家介紹了如何解決 DC/DC電源常見的應用問題 ,這次我們將視線聚焦在機殼開關電源上,機殼電源應用領域十分廣泛,不同的應用環境也會對產品有特殊的要求,所以在使用中也會出現一些問題,例如:啟動輸出異常、輸出紋波噪聲大、隔離耐壓問題或是嘯叫問題等……
上一期我們向大家介紹了如何解決 DC/DC電源常見的應用問題 ,這(zhe)次(ci)我(wo)們(men)將(jiang)視(shi)線(xian)聚(ju)焦(jiao)在(zai)機(ji)殼(ke)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)上(shang),機(ji)殼(ke)電(dian)源(yuan)應(ying)用(yong)領(ling)域(yu)十(shi)分(fen)廣(guang)泛(fan),不(bu)同(tong)的(de)應(ying)用(yong)環(huan)境(jing)也(ye)會(hui)對(dui)產(chan)品(pin)有(you)特(te)殊(shu)的(de)要(yao)求(qiu),所(suo)以(yi)在(zai)使(shi)用(yong)中(zhong)也(ye)會(hui)出(chu)現(xian)一(yi)些(xie)問(wen)題(ti),例(li)如(ru):啟動輸出異常、輸出紋波噪聲大、隔離耐壓問題或是嘯叫問題等……針對這些可能發生的電源應用問題,該如何排查並解決相應故障。本文將主要針對機殼開關電源入手分析幾種常見的電源啟動故障。
產品上電無輸出
在日常使用中,由於應用環境複雜、元件損壞等,都有可能導致電源在上電後出現無輸出的問題,會讓後級電路無法正常工作。那麼通常是由哪些原因造成的呢?
● 輸入端存在雷擊、浪湧或電壓尖峰衝擊。排查方案:可檢查產品輸入前端保險絲、整流橋、插件電阻等器件是否損壞,用差分測試上電波形分析。建議在符合技術手冊EMS條件的環境內使用,若需使用在更惡劣環境,需在產品前端加入EMC濾波器、防浪湧器件。
● 輸入電壓遠超產品最大規格值。排查方案:檢查產品輸入端保險絲、插件電阻、大電容等器件是否完好,測試輸入電壓波形判斷。建議調整輸入電壓,使用合適電壓的電源作為輸入,或更換為更高輸入的產品。
● 有水珠或錫渣等雜物附著在產品上導致內部短路。排查方案:檢查環境濕度是否在規格內、其次可拆開產品檢查貼片麵上是否存在雜物,底麵是否幹淨。建議保證測試(使用)環境的清潔,溫濕度在規格範圍,必要時產品刷三防漆。
● 輸入線斷裂或連接線端口接觸不良。排查方案:從產品底麵的輸入端子處測試輸入電壓是否正常。建議更換完好的連接線,連接線端口卡扣卡緊,避免接觸不良。
啟機延遲時間長
在產品應用中,正常連接出現啟動延遲的情況,主要原因可能為:
● 母線電壓低,導致啟動電流小,產品內部充電慢。排查方案:可(ke)用(yong)萬(wan)用(yong)表(biao)檢(jian)測(ce)輸(shu)入(ru)母(mu)線(xian)電(dian)壓(ya),確(que)認(ren)輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)是(shi)否(fou)在(zai)產(chan)品(pin)額(e)定(ding)範(fan)圍(wei)內(nei),可(ke)與(yu)產(chan)品(pin)標(biao)簽(qian)紙(zhi)上(shang)標(biao)注(zhu)的(de)輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)進(jin)行(xing)比(bi)對(dui),檢(jian)查(zha)是(shi)否(fou)在(zai)規(gui)格(ge)範(fan)圍(wei)內(nei)。建(jian)議(yi)若(ruo)超(chao)規(gui)格(ge)使(shi)用(yong),建(jian)議(yi)使(shi)用(yong)我(wo)司(si)輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)更(geng)寬(kuan)的(de)產(chan)品(pin)。
啟動無輸出/輸出異常(打嗝/跳變)
一切就緒,正式啟動卻發現無輸出或是出現打嗝、跳變的情況。可能是外界環境幹擾或是外部元器件受損導致,主要原因如下:
● 輸出負載過重或短路/容性負載超過規格值,導致啟動瞬間過流。排查方案:斷(duan)開(kai)負(fu)載(zai)空(kong)載(zai)測(ce)試(shi),確(que)認(ren)輸(shu)出(chu)是(shi)否(fou)正(zheng)常(chang),確(que)認(ren)電(dian)源(yuan)後(hou)端(duan)是(shi)否(fou)存(cun)在(zai)容(rong)性(xing)負(fu)載(zai)超(chao)規(gui)格(ge)的(de)情(qing)況(kuang),檢(jian)查(zha)電(dian)源(yuan)後(hou)端(duan)是(shi)否(fou)接(jie)有(you)啟(qi)動(dong)瞬(shun)間(jian)需(xu)求(qiu)功(gong)率(lv)大(da)的(de)負(fu)載(zai)(如電機)。建議減小負載,在技術手冊規定負載範圍內使用,或更換更大功率產品,推薦帶容性負載能力更強的產品;建議客戶更改後端負載的驅動方式,不采用電源產品直驅。
● 啟動瞬間外界幹擾大(電(dian)源(yuan)產(chan)品(pin)與(yu)大(da)功(gong)率(lv)設(she)備(bei)處(chu)於(yu)同(tong)一(yi)係(xi)統(tong)時(shi)啟(qi)動(dong)瞬(shun)間(jian)大(da)功(gong)率(lv)設(she)備(bei)可(ke)能(neng)拉(la)低(di)供(gong)電(dian)線(xian)電(dian)壓(ya),影(ying)響(xiang)電(dian)源(yuan)啟(qi)動(dong),同(tong)時(shi)工(gong)作(zuo)過(guo)程(cheng)可(ke)能(neng)不(bu)斷(duan)對(dui)供(gong)電(dian)線(xian)造(zao)成(cheng)幹(gan)擾(rao),從(cong)而(er)影(ying)響(xiang)電(dian)源(yuan)工(gong)作(zuo))。排查方案:斷開大型設備,單獨測試電源模塊。建議將電源產品與大型設備的供電網絡盡量隔離開,避免同時啟動。
● 環境溫度過低導致電解電容容量變小,ESR過大,引起啟動不良。排查方案:確que認ren環huan境jing溫wen度du在zai產chan品pin工gong作zuo溫wen度du範fan圍wei,確que認ren低di溫wen情qing況kuang下xia電dian源yuan帶dai載zai進jin行xing了le適shi當dang的de降jiang額e。建jian議yi低di溫wen情qing況kuang下xia按an降jiang額e曲qu線xian進jin行xing降jiang額e,推tui薦jian選xuan用yong更geng高gao輸shu出chu功gong率lv的de電dian源yuan產chan品pin以yi滿man足zu低di溫wen需xu求qiu。
● 輸出外接保護TVS管規格(遠)小於產品輸出電壓,輸出外接的TVS管接反、電容損壞。排查方案:去掉TVS後對電源產品輸出電壓進行測試。TVS規格選型一般為輸出電壓的1.2倍,無特殊要求一般也可不加。
免責聲明:本文為轉載文章,轉載此文目的在於傳遞更多信息,版權歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權問題,請電話或者郵箱聯係小編進行侵刪。
特別推薦
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
技術文章更多>>
- 貿澤EIT係列新一期,探索AI如何重塑日常科技與用戶體驗
- 算力爆發遇上電源革新,大聯大世平集團攜手晶豐明源線上研討會解鎖應用落地
- 創新不止,創芯不已:第六屆ICDIA創芯展8月南京盛大啟幕!
- AI時代,為什麼存儲基礎設施的可靠性決定數據中心的經濟效益
- 矽典微ONELAB開發係列:為毫米波算法開發者打造的全棧工具鏈
技術白皮書下載更多>>
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索




