對dui於yu電dian源yuan工gong程cheng師shi來lai說shuo
，掌zhang握wo開kai關guan電dian源yuan相xiang關guan基ji本ben原yuan理li是shi作zuo為wei電dian源yuan工gong程cheng師shi的de基ji本ben要yao求qiu。能neng夠gou根gen據ju這zhe些xie原yuan理li及ji相xiang關guan公gong式shi來lai設she計ji電dian源yuan產chan品pin成cheng為wei了le步bu入ru電dian源yuan行xing業ye的de必bi備bei能neng力li。經jing過guo一yi段duan時shi間jian後hou，每mei個ge電dian源yuan工gong程cheng師shi都dou會hui積ji累lei一yi定ding的de實shi踐jian經jing驗yan，在zai一yi次ci次ci的de實shi戰zhan中zhong逐zhu漸jian加jia深shen理li解jie並bing且qie提ti高gao分fen析xi問wen題ti、解(jie)決(jue)問(wen)題(ti)的(de)能(neng)力(li)。而(er)我(wo)們(men)經(jing)常(chang)會(hui)麵(mian)對(dui)各(ge)種(zhong)各(ge)樣(yang)的(de)電(dian)源(yuan)異(yi)常(chang)狀(zhuang)況(kuang)
，對(dui)這(zhe)些(xie)問(wen)題(ti)進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)和(he)解(jie)決(jue)可(ke)以(yi)加(jia)強(qiang)工(gong)程(cheng)師(shi)對(dui)電(dian)源(yuan)設(she)計(ji)的(de)理(li)解(jie)。其(qi)中(zhong)反(fan)激(ji)的(de)應(ying)用(yong)最(zui)廣(guang)泛(fan)，本(ben)文(wen)就(jiu)以(yi)次(ci)級(ji)穩(wen)壓(ya)的(de)反(fan)激(ji)電(dian)路(lu)為(wei)例(li)來(lai)分(fen)享(xiang)以(yi)下(xia)幾(ji)種(zhong)異(yi)常(chang)狀(zhuang)況(kuang)及(ji)相(xiang)關(guan)分(fen)析(xi)。

 

 

炸機問題可以分幾種情況，以2843xilieweili，caiyangdianzuduanjiejiuzhijieshidedianliuhuandegongnengshilingle
，qicianzhaochangliyinggaishihuijinrudianyakongzhideshuchufankuihuanlujinxingwenya
，qiezhankongbishizhongkaidaozuida。 但實際情況是去掉電流環流環路後，沒有了逐周期的電流檢測進行矯正，電壓環路的速度是相對較慢的（無法實現輸入功率跟隨輸出功率的工作）。無法對電感這麼大的慣性環節進行有效調整， 所以環路震蕩，驅動進入無序的模式（不再是定頻的）且輸入能量過剩
，電感CCM模式。基於之前說的隻有電壓環工作與炸機的關係（環路必然是震蕩的）。

 

1.空載情況：由於輸出負載電流時分微小，電壓環的速度相對會快一些（相對於重載）
，模塊可能短時間內不炸甚至一直不炸機。
 

2.帶載越重，電壓環的響應越慢，輸入能量過剩情況約嚴重! 炸機速度越快。

 

3.重載也不一定會燒，現在很多都有斜坡補償和高低壓補償，如果補的比較多，IC還是可以有限流功能。

 

 

虛焊或者掉件，相當於沒有RCD了，此時MOS的應力會加大，一般是會超出MOS規格，使MOS工作在雪崩狀態
，而且是重複性的。如果是裕量不足的馬上會炸MOS，也有可能暫時不炸，但進一步看：在滿載狀態下持續烤機，隨著溫度的身高，MOS應力會增加，MOS個體耐受力較弱的也會炸。

 

 

把bulk電容去掉，會導致母線電壓不穩定，但還是可以正常開機。影響主要有以下幾點：

 

1)從空載到滿載的過程
，輸出電壓會掉電壓，主要由於在低母線電壓的時候會觸發原邊過流保護。

 

2)此時變壓器會飽和，可能有噪音。

 

3)如果啟動電路從整流器前接，對啟動不會有影響;如果啟動從母線接
，則會使啟動時間更長。

 

4)此時效率會很差，母線電壓波動越大效率越差。通常提高效率會采用的一招就是增大這電容。

 

符合安規很困難。因為AC L/N接入保險後麵的電路，導致安全距離很難符合安規要求。這裏主要說明兩點：

 

1)對於做過安規的都清楚，有open/short實驗，對於IC
，任意兩個pin腳短路測試。短路後可以保護
、沒輸出或者炸機，但要保證滿足以下兩點：

 

A.不能有起火、冒煙現象；

 

B.Hi-pot測試OK。上麵的原理圖
，當將IC的HV pin和FB pin短路，HV的高壓會把連接到FB pin的光耦打壞。在這種情況下去測Hi-pot就會fail，存在安全隱患。那麼該如何解決呢？可以在光耦的3、4 pin並穩壓管，但要注意穩壓管的功率大小，選型不對仍然會把光耦打壞。

 

2)VCC繞組串接電阻。在安規的異常測試中
，比如VCC繞組抽載，如果沒有串電阻可能會有變壓器過熱問題，損壞變壓器的絕緣，導致Hi-pot通不過，存在安全隱患。實際中可能很多都沒加
，還是建議加上，還可以承受一定壓降利於VCC電壓，也可以當跳線用。