怎樣既限製主MOS管最大反峰又使RCD吸收回路功耗最小?
發布時間:2013-01-10 責任編輯:Lynnjiao
【導讀】在一對或多對相互對立的條件麵前做出選擇,那是常有的事。而我們今天討論的這個話題就是一對相互對立的條件。(即要限製主MOS管最大反峰,又要RCD吸收回路功耗最小)
在討論前我們先做幾個假設:
① 開關電源的工作頻率範圍:20~200KHZ;
② RCD中的二極管正向導通時間很短(一般為幾十納秒);
③ 在調整RCD回路前主變壓器和MOS管,輸出線路的參數已經完全確定。

圖題:MOS管
有了以上幾個假設我們就可以先進行計算:
首先對MOS管的VD進行分段:
ⅰ,輸入的直流電壓VDC;
ⅱ,次級反射初級的VOR;
ⅲ,主MOS管VD餘量VDS;
ⅳ,RCD吸收有效電壓VRCD1。
對於以上主MOS管VD的幾部分進行計算:
ⅰ,輸入的直流電壓VDC。
在計算VDC時,是依最高輸入電壓值為準。如寬電壓應選擇AC265V,即DC375V。
VDC=VAC *√2
ⅱ,次級反射初級的VOR。
VOR是依在次級輸出最高電壓,整流二極管壓降最大時計算的,如輸出電壓為:5.0V±5%(依Vo =5.25V計算),二極管VF為0.525V(此值是在1N5822的資料中查找額定電流下VF值).
VOR=(VF Vo)*Np/Ns
ⅲ,主MOS管VD的餘量VDS。
VDS是依MOS管VD的10%為最小值.如KA05H0165R的VD=650應選擇DC65V.
VDC=VD* 10%
ⅳ,RCD吸收VRCD。
MOS管的VD減去ⅰ,ⅲ三項就剩下VRCD的最大值。實際選取的VRCD應為最大值的90%(這裏主要是考慮到開關電源各個元件的分散性,溫度漂移和時間飄移等因素得影響)。
VRCD=(VD-VDC -VDS)*90%
注意:
① VRCD是計算出理論值,再通過實驗進行調整,使得實際值與理論值相吻合。
② MOS管VD應當小於VDC的2倍.(如果大於2倍,則主MOS管的VD值就過大了)。
③ VRCD是由VRCD1和VOR組成的。
④ VRCD必須大於VOR的1.3倍.(如果小於1.3倍,則主MOS管的VD值選擇就太低了)。
⑤ 如果VRCD的實測值小於VOR的1.2倍,那麼RCD吸收回路就影響電源效率。
ⅴ,RC時間常數τ確定。
τ是依開關電源工作頻率而定的,一般選擇10~20個開關電源周期。
試驗調整VRCD值
首先假設一個RC參數,R=100K/RJ15, C="10nF/1KV"。再上市電,應遵循先低壓後高壓,再由輕載到重載的原則。在試驗時應當嚴密注視RC元件上的電壓值,務必使VRCD小於計算值。如發現到達計算值,就應當立即斷電,待將R值減小後,重複以上試驗。(RC元件上的電壓值是用示波器觀察的,示波器的地接到輸入電解電容“+”極的RC一點上,測試點接到RC另一點上)。一個合適的RC值應當在最高輸入電壓,最重的電源負載下,VRCD的試驗值等於理論計算值。
試驗中值得注意的現象
輸入電網電壓越低VRCD就越高,負載越重VRCD也越高。那麼在最低輸入電壓,重負載時VRCD的試驗值如果大於以上理論計算的VRCD值,是否和(三)的(de)內(nei)容(rong)相(xiang)矛(mao)盾(dun)哪(na)?一(yi)點(dian)都(dou)不(bu)矛(mao)盾(dun),理(li)論(lun)值(zhi)是(shi)在(zai)最(zui)高(gao)輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)時(shi)的(de)計(ji)算(suan)結(jie)果(guo),而(er)現(xian)在(zai)是(shi)低(di)輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)。重(zhong)負(fu)載(zai)是(shi)指(zhi)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)可(ke)能(neng)達(da)到(dao)的(de)最(zui)大(da)負(fu)載(zai)。主(zhu)要(yao)是(shi)通(tong)過(guo)試(shi)驗(yan)測(ce)得(de)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)的(de)極(ji)限(xian)功(gong)率(lv)。
RCD吸收電路中R值的功率選擇
R的功率選擇是依實測VRCD的最大值,計算而得。實際選擇的功率應大於計算功率的兩倍。
RCD吸收電路中的R值如果過小,就會降低開關電源的效率。然而,如果R值如果過大,MOS管就存在著被擊穿的危險。
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