交流內阻法：采用1KHz的正選波電流(一般為mA級別)，來測試引起的壓降，計算內阻。直流內阻法：直接采用工作中的電流，延遲一段時間以後才測試引起的壓降，計算內阻值。

 

DCR法：使用不同的充電和放電倍率的電流，持續10S，記錄電壓和電流，形成一條直線，斜率即為內阻。

 

MCCF法：采用持續時間為5S的脈衝充放電電流，記錄電壓降
，計算內阻。

 

HPPC法：美國PNGV規定，采用連續的充放電脈衝，測試引起的壓降

，有兩種(放電時間18秒
，充電2S;充放電時間均為10S)逆推法：EDLC測試法根I據EC62391規定，放電程序完成後，取放電曲線上線性的區域之 線段，並延申至放電之時間點取其與額定電壓間之電壓差與放電電，來計算DCIR值。

 

由(you)內(nei)阻(zu)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)可(ke)知(zhi)，通(tong)過(guo)控(kong)製(zhi)電(dian)流(liu)，來(lai)測(ce)試(shi)或(huo)者(zhe)逆(ni)推(tui)出(chu)壓(ya)降(jiang)，通(tong)過(guo)計(ji)算(suan)來(lai)得(de)出(chu)的(de)結(jie)果(guo)。所(suo)以(yi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)沒(mei)有(you)精(jing)確(que)度(du)的(de)說(shuo)法(fa)，準(zhun)確(que)的(de)說(shuo)法(fa)是(shi)指(zhi)電(dian)壓(ya)擺(bai)幅(fu)(電壓降)的(de)精(jing)度(du)，在(zai)較(jiao)高(gao)的(de)電(dian)壓(ya)上(shang)精(jing)準(zhun)測(ce)試(shi)較(jiao)小(xiao)的(de)電(dian)壓(ya)擺(bai)幅(fu)

，是(shi)一(yi)個(ge)高(gao)難(nan)度(du)的(de)動(dong)作(zuo)
，費(fei)思(si)在(zai)這(zhe)方(fang)麵(mian)有(you)專(zhuan)利(li)技(ji)術(shu)。一(yi)般(ban)內(nei)阻(zu)所(suo)謂(wei)的(de)精(jing)度(du)是(shi)指(zhi)內(nei)阻(zu)重(zhong)複(fu)度(du)。就(jiu)是(shi)儀(yi)器(qi)在(zai)測(ce)試(shi)同(tong)一(yi)個(ge)電(dian)池(chi)的(de)同(tong)一(yi)個(ge)SOC點時，多次測試的結果漂移。

 

不bu同tong的de測ce試shi方fang法fa的de測ce試shi結jie果guo之zhi間jian是shi不bu可ke以yi對dui比bi的de。因yin為wei不bu同tong的de測ce試shi方fang法fa偏pian重zhong的de應ying用yong環huan境jing不bu同tong。應ying該gai根gen據ju不bu同tong的de應ying用yong環huan境jing選xuan用yong相xiang應ying的de測ce試shi方fang法fa。隻zhi有you選xuan對dui了le方fang法fa
，測ce試shi結jie果guo才cai有you可ke參can考kao性xing。

 

電池在不同的SOCzhuangtaixia，neizuzhibuxiangtong，butongdefangdiandianliuzhi，neizuzhiyebuxiangtong，suoyiyibanshuoneizu，shizhichongmandianshideneizu。tebieshidonglidianchi
，neizushiyaoceshizhenggechongfangdianguochengzhongdebianhua。zuizhongyaodeshi70%~30%SOC。

 

1、交流內阻法：ciceshifajinceshidianchideoumuneizu，zhuyaopingjiadeshidianchixindeshengchangongyihaohuai。dianxinshengchanchangjiayongjiaoliuneizudezhilaipingjiadianxindehegeyufou，tongguodianyadeboxinglaipingjiabiruyangjiyinjicailiaodepentuxiaoguo
，maojiexiaoguodengdenglaigaishangongyi。erdianzichanpindegongdiandianchiyekecaiyongciceshifangshi。yibanlaishuo，dianchishijishiyongshi
，dianliuzhixiaoyu0.1C的應用環境，用交流法測試是可置信的。

 

原因：工作電流小，那麼工作時
，引起的電池極化現象基本可以忽略

，所以基本不影響實際使用。

 

注釋：同tong樣yang的de電dian池chi應ying用yong環huan境jing不bu同tong，測ce試shi方fang法fa不bu同tong

，比bi如ru同tong樣yang的de電dian芯xin用yong在zai手shou機ji上shang，則ze用yong交jiao流liu內nei阻zu測ce試shi即ji可ke，如ru果guo用yong到dao移yi動dong電dian源yuan裏li
，則ze用yong直zhi流liu內nei阻zu法fa測ce試shi。

 

優點：測試速度快，穩定性好，測試設備便宜。

 

2、直流內阻法：實際工作電流超過0.1C
，那(na)麼(me)就(jiu)要(yao)用(yong)直(zhi)流(liu)內(nei)阻(zu)法(fa)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)了(le)。一(yi)般(ban)應(ying)用(yong)於(yu)動(dong)力(li)電(dian)池(chi)或(huo)者(zhe)大(da)功(gong)率(lv)儲(chu)能(neng)電(dian)池(chi)，則(ze)使(shi)用(yong)這(zhe)個(ge)方(fang)法(fa)測(ce)試(shi)。一(yi)般(ban)電(dian)壓(ya)降(jiang)的(de)讀(du)值(zhi)會(hui)使(shi)用(yong)帶(dai)載(zai)時(shi)的(de)電(dian)壓(ya)降(jiang)，或(huo)者(zhe)停(ting)止(zhi)帶(dai)載(zai)時(shi)的(de)回(hui)彈(dan)電(dian)壓(ya)。

 

DCR,MCCF,HPPC三種方法測試的基礎是相同的。並且在30%~70%SOC狀態下，測試結果基本相同，也與直流內阻法測試相同。其他區段，差異也不是很大，均可用於電池的評估。

 

原因：工(gong)作(zuo)電(dian)流(liu)大(da)，會(hui)引(yin)起(qi)電(dian)池(chi)的(de)電(dian)化(hua)學(xue)極(ji)化(hua)內(nei)阻(zu)和(he)濃(nong)差(cha)極(ji)化(hua)內(nei)阻(zu)，而(er)這(zhe)兩(liang)項(xiang)引(yin)起(qi)的(de)內(nei)阻(zu)值(zhi)
，基(ji)本(ben)相(xiang)當(dang)於(yu)交(jiao)流(liu)內(nei)阻(zu)，甚(shen)至(zhi)會(hui)大(da)數(shu)倍(bei)，所(suo)以(yi)，在(zai)大(da)電(dian)流(liu)輸(shu)出(chu)使(shi)用(yong)環(huan)境(jing)下(xia)，測(ce)試(shi)的(de)時(shi)候(hou)必(bi)須(xu)考(kao)慮(lv)計(ji)劃(hua)內(nei)阻(zu)。

 

3、逆推法：是(shi)建(jian)立(li)在(zai)理(li)想(xiang)狀(zhuang)態(tai)下(xia)的(de)電(dian)池(chi)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)，這(zhe)個(ge)方(fang)法(fa)一(yi)般(ban)會(hui)用(yong)應(ying)用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)設(she)定(ding)，不(bu)會(hui)應(ying)用(yong)與(yu)實(shi)際(ji)測(ce)試(shi)。因(yin)為(wei)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)本(ben)身(shen)不(bu)可(ke)能(neng)既(ji)保(bao)證(zheng)高(gao)電(dian)壓(ya)的(de)精(jing)度(du)的(de)同(tong)時(shi)保(bao)很(hen)小(xiao)的(de)電(dian)壓(ya)擺(bai)幅(fu)的(de)測(ce)試(shi)，還(hai)要(yao)保(bao)證(zheng)非(fei)常(chang)高(gao)長(chang)時(shi)間(jian)帶(dai)在(zai)穩(wen)定(ding)，和(he)極(ji)低(di)的(de)溫(wen)度(du)係(xi)數(shu)。

 

測試內阻的變化曲線：充放電全過程。每隔設置的時間測試一次。