晶振起振問題，晶振的負載電容匹配可能不合適，導致晶振不起振。

 

 

係統工作偶爾不正常。

 

最zui近jin在zai一yi個ge項xiang目mu中zhong，遇yu到dao一yi個ge很hen奇qi怪guai的de問wen題ti。係xi統tong偶ou爾er會hui不bu工gong作zuo。而er且qie跑pao了le四si個ge周zhou的de係xi統tong

，中zhong間jian出chu現xian過guo一yi次ci。後hou來lai不bu知zhi道dao怎zen麼me恢hui複fu了le。當dang今jin天tian再zai次ci遇yu到dao，感gan覺jiao這zhe種zhong情qing況kuang，肯ken定ding是shi哪na裏li有you問wen題ti，不bu可ke能neng是shi運yun氣qi使shi然ran。

 

這裏將問題最終歸結到晶振上，是因為問題的可重複性。

 

在第一次出現時
，盡管在其他地方都進行過測量

，但是沒有懷疑到晶振上，所以一直沒有將問題再次重現(後來莫名係統恢複了正常)。

 

如果
，問題沒有重現，就無法分析問題。因為可能的地方太多。

 

而這次問題再次出現時，隻有當在晶振上觸碰時
，問題得到了重現，因此證明跟晶振這裏有問題。

 

1、測試分析過程：

2
、首先萬用表測量AD輸出引腳（串行輸出，連接MCU），AD輸出端沒有轉換完成信號（一個下降沿）出現。

3
、這個時候，如果人為將AD輸出端拉低
，係統工作正常。

4
、所以
，MCU端應該沒有出現異常。

5、但是，AD端很長一段時間都是工作正常的，為什麼突然工作出現了異常。

6
、在用示波器測試了各個地方之後，最終懷疑到了晶振上。

7、當將示波器探頭放到XTAL1上時，係統恢複正常工作。如果將探頭拿下
，則係統不再工作。

8、由此斷定，係統工作異常的原因，出現在晶振起振上。

9、後來先將負載電容調大一些
，發現依然無法起振。

10

、之後將負載電容調小了一些，晶振起振。係統恢複正常工作。

 

注：
 

對(dui)於(yu)晶(jing)振(zhen)引(yin)起(qi)的(de)問(wen)題(ti)很(hen)多(duo)時(shi)候(hou)很(hen)難(nan)發(fa)現(xian)，這(zhe)個(ge)要(yao)十(shi)分(fen)注(zhu)意(yi)。當(dang)其(qi)他(ta)地(di)方(fang)，都(dou)檢(jian)測(ce)過(guo)沒(mei)有(you)之(zhi)後(hou)，可(ke)能(neng)就(jiu)要(yao)考(kao)慮(lv)晶(jing)振(zhen)問(wen)題(ti)了(le)。並(bing)聯(lian)電(dian)容(rong)，接(jie)地(di)，晶(jing)振(zhen)不(bu)良(liang)率(lv)
，都(dou)有(you)可(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)晶(jing)振(zhen)起(qi)振(zhen)出(chu)現(xian)問(wen)題(ti)。