泛華恒興推出最新電子元器件老化測試係統
發布時間:2011-08-01 來源:中國電子元器件產業網
新聞事件:
- 泛華恒興推出電子元器件老化測試係統
近jin日ri,北bei京jing泛fan華hua恒heng興xing科ke技ji有you限xian公gong司si推tui出chu了le電dian子zi元yuan器qi件jian老lao化hua測ce試shi係xi統tong,該gai係xi統tong主zhu要yao用yong於yu對dui探tan井jing設she備bei電dian路lu板ban中zhong多duo種zhong電dian子zi元yuan器qi件jian的de入ru廠chang篩shai選xuan與yu檢jian驗yan,其qi中zhong包bao括kuo對dui電dian阻zu、電容、電感等常用元器件的檢測。
作為專業的電子元器件老化測試係統,其可在室溫至180度的任意溫度點下,對電子元器件進行功能、電氣指標的自動化測試,溫度測量精度可達0.1℃。該測試係統由老化板、老化插座、負載板及泛華恒興自主研發的信號路由矩陣組成,模塊化設計保證了係統具有強大的擴展性。係統采用大腔體設計,可接受最多16塊不同的老化板同時進行測試。老化板適配夾具耐溫可達270℃,接口可基於元器件任意定製。同時,該係統還可以任意設置老化溫度點、老化時間與循環測試時間間隔,以滿足不同的測試需求。
電子元器件老化測試係統擁有豐富儀器和軟件算法功能,並可對8類不同被測件如:電阻(1Ω~10MΩ)、電容(1PF~1F)、電感(10nH~100H)、穩壓器、二極管以及變壓器等多種元器件的測試和評判,測試內容包括LCR、電容耐壓、三端穩壓器紋波、信(xin)號(hao)變(bian)壓(ya)器(qi)帶(dai)寬(kuan)等(deng)項(xiang)目(mu)。該(gai)係(xi)統(tong)專(zhuan)注(zhu)於(yu)在(zai)線(xian)環(huan)境(jing)仿(fang)真(zhen)與(yu)性(xing)能(neng)檢(jian)測(ce),除(chu)裝(zhuang)卸(xie)件(jian)采(cai)用(yong)手(shou)動(dong)完(wan)成(cheng)外(wai),測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)均(jun)由(you)係(xi)統(tong)自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng),操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan),在(zai)節(jie)約(yue)生(sheng)產(chan)時(shi)間(jian)的(de)同(tong)時(shi),降(jiang)低(di)了(le)設(she)備(bei)的(de)總(zong)體(ti)投(tou)入(ru)成(cheng)本(ben)。此(ci)外(wai),還(hai)具(ju)有(you)強(qiang)大(da)的(de)數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)、曲線分析與報表生成功能,可得出元器件在老化過程中的特性變化,並對產品缺陷溯源,使操作管理更加人性便捷。
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