產品特性：

• 測量時間最快為0.5ms
• 能夠高速測量共振頻率、發聲零件
  、振動傳感器
• 與以往產品相比可高速的切換測量條件後進行測量

應用範圍：

• 壓電元件（發聲零件、濾波器）
  、高分子電容的生產線上的檢查中
• 電池材料

 
概要

阻抗分析儀IM3570是實現了測量頻率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析儀。根據客戶的用途
，可以與原來本公司的LCR產品一樣選擇將測量值用數值顯示模式來顯示頻率/電平特性的測量圖表。

定位

IM3570是類似本公司以往產品LCR測試儀3532-50，並較其功能更為強大的產品。特別加強了頻率的掃描測量
、高速測量
、低ESR測量、DCR的連續測量和測量穩定性，是HIOKI首款能在掃頻測量時顯示圖表的產品。此外，這款產品的測試速度、操作性

、價格都非常符合現今市場需求
，極具行業競爭性。

特點

關於測量精度，特別是低阻抗的操作反複精度比起以往產品都提高了一位，所以比較適合測量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。

另外，測量時間最快為0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF時）
，所以能夠高速測量共振頻率
、發聲零件、振動傳感器等，適合用於生產壓電元件的生產線。

最大的優點是，與以往產品相比可高速的切換測量條件後進行測量。因此，以往的裝備多台測試儀的係統現在用一台IM3570就能搞定。比如，測量線圈，DCR測量（電阻計）和1MHz的L-Q值測量（LCR）都可以用IM3570測量。

主要應用

壓電元件（發聲零件、濾波器）
、高分子電容的生產線上的檢查中，另外頻率掃描測量也可用於電池材料評估等多種用途中。