分享控製ESD的基本方法
發布時間:2018-08-01 責任編輯:lina
【導讀】我們都知道靜電不能被消除,隻能被控製。本文將會給大家分享控製ESD的基本方法,從堵和導兩方麵入手開始了解,再進一步舉例分析方法。
靜電不能被消除,隻能被控製。
控製ESD的基本方法:
堵
從機構上做好靜電的防護,用絕緣的材料把PCB板密封在外殼內,不論有多少靜電都不能到釋放到PCB上。
導
有了ESD,迅速讓靜電導到PCB板的主GND上,可以消除一定能力的靜電。
對於金屬外殼接地的產品我來分析一下ESD問題。
先來分析金屬外殼的整機係統的ESD的設計,參考如下結構:

1、靜電釋放於機殼,由於沒有理想的接地,會在機殼上建立電壓V。
電壓的幅度與接地線阻抗、機殼與大地的電容、機殼與內部電路的電容有關。
dv/dt也主要與電容有關。
2、係(xi)統(tong)地(di)與(yu)機(ji)殼(ke)地(di)分(fen)離(li)的(de)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin),內(nei)部(bu)電(dian)路(lu)也(ye)不(bu)會(hui)設(she)計(ji)成(cheng)與(yu)機(ji)殼(ke)連(lian)通(tong),所(suo)以(yi)幹(gan)擾(rao)進(jin)入(ru)內(nei)部(bu)電(dian)路(lu)主(zhu)要(yao)是(shi)耦(ou)合(he)方(fang)式(shi)。通(tong)過(guo)耦(ou)合(he)方(fang)式(shi)進(jin)入(ru)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)內(nei)部(bu)的(de)情(qing)況(kuang),與(yu)機(ji)殼(ke)上(shang)建(jian)立(li)的(de)dv/dt,接地線上建立的di/dt有關,與機殼上建立的電壓絕對值不直接相關。這也是大機箱的電子設備不易受幹擾幹擾的原因,對地電容比較大,不易建立較大的dV/dt和di/dt。
建立電壓的絕對值與絕緣強度不夠造成間隙放電有關。
3、如(ru)果(guo)耦(ou)合(he)是(shi)幹(gan)擾(rao)的(de)主(zhu)要(yao)路(lu)徑(jing),我(wo)們(men)可(ke)以(yi)采(cai)取(qu)一(yi)些(xie)措(cuo)施(shi),措(cuo)施(shi)可(ke)以(yi)是(shi)很(hen)多(duo)不(bu)同(tong)的(de)方(fang)法(fa)。一(yi)般(ban)來(lai)說(shuo)耦(ou)合(he)路(lu)徑(jing)會(hui)比(bi)較(jiao)多(duo),有(you)一(yi)些(xie)還(hai)不(bu)易(yi)察(cha)覺(jiao),直(zhi)接(jie)采(cai)取(qu)阻(zu)斷(duan)耦(ou)合(he)路(lu)徑(jing)的(de)方(fang)法(fa)不(bu)易(yi)實(shi)現(xian),除(chu)非(fei)通(tong)過(guo)結(jie)構(gou)分(fen)析(xi)、幹gan擾rao分fen析xi發fa現xian了le明ming確que的de結jie構gou問wen題ti或huo者zhe路lu徑jing。拉la開kai距ju離li可ke以yi減jian小xiao耦ou合he電dian容rong,間jian隙xi襯chen墊dian聚ju四si氟fu乙yi烯xi等deng材cai料liao也ye可ke以yi減jian小xiao電dian容rong,從cong而er減jian少shao耦ou合he強qiang度du。
實際我有看到客戶的電子產品有這樣的問題:
A.內部電路有連接線走線時直接貼住機殼了,這就會存在設計結構的問題。
B.一根高阻抗的輸入線與一根本來沒有幹擾的導線捆紮走線,而這個根本沒有幹擾的導線有一段比較靠近機殼,這也會有耦合ESD的問題。
4、或多或少總有一部分幹擾經耦合進入內部電路,是否能處理好這些耦合進來的幹擾;係統接地是關鍵。
連續的、靠得住的係統接地,可以承載內部電路不受外部幹擾,不管係統地是否實際接大地。參考上圖中的耦合路徑分析箭頭路徑分析。
在我進行ESD的內部結構電路的PCB分析時,我們可以看到在IO線端口見到電阻電容的設計,這些電容可以把耦合過來的幹擾導入係統地。
當幹擾源阻抗比較低時,同時信號允許的情況下,可以串電阻或者磁珠改善。
注意:對於高頻電路,電容對幹擾和有用信號同時起作用,所以不能用於高頻信號電路。但使用TVS器件時(較小的結電容)電壓高於信號電壓,基本對有用信號沒有影響。
有必要說明一下:當信號電平為0時,從0電(dian)平(ping)開(kai)始(shi)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)就(jiu)需(xu)要(yao)消(xiao)耗(hao)能(neng)量(liang)給(gei)電(dian)容(rong)充(chong)電(dian),適(shi)當(dang)電(dian)容(rong)量(liang)可(ke)以(yi)吸(xi)收(shou)掉(diao)幹(gan)擾(rao)能(neng)量(liang),使(shi)幹(gan)擾(rao)電(dian)平(ping)達(da)不(bu)到(dao)邏(luo)輯(ji)動(dong)作(zuo)電(dian)平(ping),電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)電(dian)路(lu)不(bu)受(shou)幹(gan)擾(rao)。TVS在這個過程中基本不起作用,即便幹擾電平已經達到邏輯動作電平。
很多時候由於幹擾能量是吸收不完會穿過PCB,會通過CPU/MCU,如上圖中的箭頭所示路徑。
所以後麵我再分析電子產品內部ESD的問題設計時知道:一方麵我們要規劃幹擾在PCB上的路徑(注意這是在布板PCB板時需要提前規劃);另一方麵要盡量控製幹擾幅度。
5、kongqifangdianzhuyaoshikongjiandefushechengfen,yimeiyoumingquedelujing,duiyurongxingouheqingkuang,shouraobuweihuiyoujiaodamianjiyijijiaojindejuli,butairongyishibielujing,suoyicongminganbuweirushoubijiaorongyi。
實際的ESD都是非常高電壓的空氣放電模式,空間放電於接縫、插座、按鍵等。
相對接觸放電,空氣放電幹擾情況要複雜很多。
最常見的是金屬殼與按鍵、顯示屏的縫隙;也很容易出現顯示的故障。
在對金屬殼體做接觸放電通過的前提下,需要對這些縫隙做空氣放電,可能出現幹擾情況如:顯示閃爍、誤讀按鍵、機器重啟複位等。
我們要首先排除放電火花直接進入電子產品或設備的情況,幹擾過程相對簡單,我們可以尋找一下放電怎麼會繞過殼體。
處理也簡單:縮小縫隙,內部電路控製好絕緣間距。
比較常見的是放電火花落在金屬殼體上出現幹擾。
接觸與空氣放電於殼產生的幹擾是不同的。
接觸放電於金屬殼體,產生比較大的di/dt,在結構件接地良好的情況下,僅有微弱的dv/dt。空氣放電於金屬殼體,槍頭有較大dv/dt,槍前部高壓部分體積越大,這個dv/dt越強;這個dv/dt很可能超過接觸放電在接地不良金屬構件上產生的大的電壓V。
同時火花有較大的di/dt,yejiushishuoyoutubiandianchangyucichang。tubiandianchangyijinchangrongxingouhedefangshicongjueyuangoujianbuweiouhedaoneibudianlu,tubiancichangyijinchangganxingouhefangshichuantoujueyuanjianjinruneibudianlu。
我在進行電子產品整機ESD設計時通常建議分三步走:
(1)防止外部電荷流入電路板而產生瞬態耦合幹擾;
(2)防止外部磁場對電路板產生瞬態耦合幹擾;
(3)防止靜電場產生的瞬態耦合幹擾。
在發生 ESD 問題時,解決方案有:
- 改進係統的接地設計(包括機箱機櫃、控製麵板、通信電纜連接)。
- 改進電路板的接地設計,對外接口 ESD 接地的設計。
- 發現係統死機、複位或通信錯誤的根本原因,在PCB 板進行相應信號處理和在軟件上進行處理, 也是解決 ESD 問題 的最好辦法,費用最低,但難度較大、較為耗時。
我再總結一下,對於電子產品/設備-整機級的堵和導
1、外殼和結構件:金屬以及可導電的電鍍材料等,屬於容易吸引和聚集靜電的材料;ESD要求很高的項目要盡可能避免使用這些材料。
2、必須使用導體材料時:結構上要事先預留有效而布局均勻的接地點;一般來說,頂針或者金屬彈片的接地效果優於導電泡棉和導電布。
3、無法做接地處理的例如電鍍側鍵等,需要重點在主板上做特別處理。包括:
(1)增加壓敏電阻、TVS或者電容等器件;
(2)預留GND管腳;
(3)板邊露銅吸引靜電放電;
4、外殼上的金屬件,距離器件和走線必須大於2.2mm以上距離。
5、堆疊上避免器件裸露於孔、縫邊;如果無法避免的話,則要在組裝上想辦法堵;常見的做法有粘貼高溫膠帶或者防靜電膠帶等阻隔;所有結構設計需要留有增加隔離片的空間。
如需了解更多應用細節 & EMC相關-6大設計係列:

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