1 靜電放電抗擾度試驗

1.1 靜電放電抗擾度試驗常見問題

（1）手機通話中斷。

（2）靜電放電導致手機部分功能失效，但靜電放電過程結束後或者重新啟動手機之後失效的功能可以恢複。這些現象可能為：
         
屏幕顯示異常，如屏幕顯示呈白色、出現條紋
、顯示出現亂碼
、顯示模糊等等；
通話效果出現問題
，如嘯叫聲或者聲音消失
；
按鍵功能或者觸摸屏功能喪失；
軟件出現誤告警，如在並沒有出現插拔充電器的情況下頻繁提示“充電已連接、充電器已移除”。

（3）手機自動關機或者重新啟動現象。這個問題既可能發生在通話過程中，也可能發生在待機過程中。

（4）靜電放電導致手機失效或損壞。

由於部分器件損壞，手機的一些功能在重新啟動後仍無法恢複，如攝像頭功能；
自動關機後無法再次開機的情況；
與充電器相連接的情況下進行測試時
，充電器也可能出現失效、損壞甚至爆炸等問題。

1.2 靜電放電問題的具體分析

（1）通話中斷：造成通話中斷的主要原因是靜電放電對手機內部的射頻電路和/或基帶電路造成影響，造成了通信信噪比的下降，信號同步出現問題，從而造成通話中斷。

結jie構gou設she計ji不bu合he理li也ye可ke能neng導dao致zhi通tong話hua中zhong斷duan。靜jing電dian放fang電dian試shi驗yan中zhong需xu要yao使shi用yong較jiao大da麵mian積ji的de金jin屬shu材cai質zhi的de水shui平ping耦ou合he板ban
，手shou機ji與yu水shui平ping耦ou合he板ban之zhi間jian僅jin放fang置zhi一yi個ge厚hou度du為wei0.5 mm的(de)絕(jue)緣(yuan)墊(dian)。當(dang)天(tian)線(xian)或(huo)者(zhe)大(da)麵(mian)積(ji)的(de)金(jin)屬(shu)部(bu)件(jian)距(ju)離(li)這(zhe)個(ge)水(shui)平(ping)耦(ou)合(he)板(ban)距(ju)離(li)過(guo)近(jin)時(shi)，可(ke)能(neng)產(chan)生(sheng)相(xiang)互(hu)耦(ou)合(he)
，導(dao)致(zhi)移(yi)動(dong)電(dian)話(hua)機(ji)實(shi)際(ji)能(neng)達(da)到(dao)的(de)靈(ling)敏(min)度(du)大(da)大(da)下(xia)降(jiang)，進(jin)行(xing)靜(jing)電(dian)試(shi)驗(yan)時(shi)通(tong)話(hua)更(geng)容(rong)易(yi)中(zhong)斷(duan)，嚴(yan)重(zhong)時(shi)即(ji)使(shi)不(bu)施(shi)加(jia)靜(jing)電(dian)幹(gan)擾(rao)移(yi)動(dong)電(dian)話(hua)機(ji)都(dou)無(wu)法(fa)保(bao)持(chi)通(tong)話(hua)。

（2）自動關機或重啟：基帶電路的複位電路受到靜電的幹擾導致手機誤關機或重啟。

（3）手機失效或損壞：靜電放電過程中高電壓和高電流導致器件的熱失效或者絕緣擊穿。也可能受到靜電放電過程中的強電磁場影響導致器件暫時失效。

（4）軟件故障：靜電幹擾信號被當作有用信號被處理，導致操作係統誤響應。

1.3靜電放電問題的改進建議

（1）在設計方案上考慮靜電放電問題

a、盡量選擇靜電敏感度等級高的器件；
b
、器件與靜電源隔離；
c
、減少回路麵積(麵積越大，所包含的場流量越大，其感應電流越大)。具體的措施可能包括：
走線越短越好；電源與地越接近越好；存在多組電源和地時，以格子方式連接；太長的信號線或電源線必須與地線交錯布置；信號線越靠近地線越好；
所有的組件越近越好；同一特性器件越近越好；接地平麵設計：盡量在PCB上使用完整的地平麵；PCB接地麵積越大越好；不要有大的缺口；PCB的接地線需要低阻抗且要有良好的隔離；電源、地布局在板中間比在四周好；在電源和地之間放置高頻旁路電容；保護靜電敏感的元器件。

（2）出現靜電問題後的整改建議針對上述靜電放電問題
，需要采取以下步驟進行整改。

a）嚐試直接放電和間接放電、空氣放電和接觸放電
，確認耦合路徑；
b）從不同方向放電，觀察現象有何不同，確定所有的放電點和放電路徑；
c）從低到高，在不同電壓下進行試驗，確定手機在哪個電壓範圍內出現不合格現象
；
d）多試驗幾台樣機，分析共性，確認失效原因
；
e）根據耦合路徑、不合格現象、放電路徑，判斷相關的敏感器件；
f）針對敏感器件製訂解決方案；
g）通過試驗驗證
、修正解決方案。整改中具體可采用以下措施。

1
、對於機殼縫隙
、按鍵、FPCB的問題可用介質隔離的方式來處理；
2、對於攝像頭、麥克風、聽筒等問題可以通過介質隔離、加強接地等方式來處理
；
3、具有屏蔽殼的芯片可以通過加強屏蔽效果、屏蔽殼加強接地的方式來處理；
4、對於接口電路

、關鍵芯片的引腳
，要通過使用保護器件（如TVS管，ESD防護器件）來加以保護；·對於軟件的故障，可以通過增加一些邏輯判斷來正確檢測和處理告警信息的方式來改善。

2 電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗

2.1 電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗概述

電快速瞬變脈衝群產生的原理如下：當電感性負載（如繼電器、接觸器等）在(zai)斷(duan)開(kai)時(shi)，由(you)於(yu)開(kai)關(guan)觸(chu)點(dian)間(jian)隙(xi)的(de)絕(jue)緣(yuan)擊(ji)穿(chuan)或(huo)觸(chu)點(dian)彈(dan)跳(tiao)等(deng)原(yuan)因(yin)，在(zai)斷(duan)開(kai)處(chu)產(chan)生(sheng)的(de)瞬(shun)態(tai)騷(sao)擾(rao)。當(dang)電(dian)感(gan)性(xing)負(fu)載(zai)多(duo)次(ci)重(zhong)複(fu)開(kai)關(guan)，則(ze)脈(mai)衝(chong)群(qun)又(you)會(hui)以(yi)相(xiang)應(ying)的(de)時(shi)間(jian)間(jian)隙(xi)多(duo)次(ci)重(zhong)複(fu)出(chu)現(xian)。這(zhe)種(zhong)瞬(shun)態(tai)騷(sao)擾(rao)能(neng)量(liang)較(jiao)小(xiao)，一(yi)般(ban)不(bu)會(hui)引(yin)起(qi)設(she)備(bei)的(de)損(sun)壞(huai)
，但(dan)由(you)於(yu)其(qi)頻(pin)譜(pu)分(fen)布(bu)較(jiao)寬(kuan)，所(suo)以(yi)會(hui)對(dui)移(yi)動(dong)電(dian)話(hua)機(ji)的(de)可(ke)靠(kao)工(gong)作(zuo)產(chan)生(sheng)影(ying)響(xiang)。

該試驗是一種將由許多快速瞬變脈衝組成的脈衝群耦合到移動電話機的電源端口的試驗。試驗脈衝的特點是：瞬變脈衝上升時間短、重複出現、能(neng)量(liang)低(di)。該(gai)試(shi)驗(yan)的(de)目(mu)的(de)就(jiu)是(shi)為(wei)了(le)檢(jian)驗(yan)手(shou)機(ji)在(zai)遭(zao)受(shou)這(zhe)類(lei)暫(zan)態(tai)騷(sao)擾(rao)影(ying)響(xiang)時(shi)的(de)性(xing)能(neng)。一(yi)般(ban)認(ren)為(wei)電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)衝(chong)群(qun)之(zhi)所(suo)以(yi)會(hui)造(zao)成(cheng)手(shou)機(ji)的(de)誤(wu)動(dong)作(zuo)
，是(shi)因(yin)為(wei)脈(mai)衝(chong)群(qun)對(dui)線(xian)路(lu)中(zhong)半(ban)導(dao)體(ti)結(jie)電(dian)容(rong)充(chong)電(dian)
，當(dang)結(jie)電(dian)容(rong)上(shang)的(de)能(neng)量(liang)累(lei)積(ji)到(dao)一(yi)定(ding)程(cheng)度(du)

，便(bian)會(hui)引(yin)起(qi)手(shou)機(ji)的(de)誤(wu)操(cao)作(zuo)。具(ju)體(ti)表(biao)現(xian)為(wei)在(zai)測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)移(yi)動(dong)電(dian)話(hua)機(ji)通(tong)信(xin)中(zhong)斷(duan)
、死機
、軟件告警
、控製及存儲功能喪失等。

2.2 電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗常見問題分析

電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)衝(chong)波(bo)形(xing)通(tong)過(guo)充(chong)電(dian)器(qi)直(zhi)接(jie)傳(chuan)導(dao)進(jin)手(shou)機(ji)
，導(dao)致(zhi)主(zhu)板(ban)電(dian)路(lu)上(shang)有(you)過(guo)大(da)的(de)噪(zao)聲(sheng)電(dian)壓(ya)。當(dang)單(dan)獨(du)對(dui)火(huo)線(xian)或(huo)零(ling)線(xian)注(zhu)入(ru)時(shi)，盡(jin)管(guan)是(shi)采(cai)取(qu)的(de)對(dui)地(di)的(de)共(gong)模(mo)方(fang)式(shi)注(zhu)入(ru)
，但(dan)在(zai)火(huo)線(xian)和(he)零(ling)線(xian)之(zhi)間(jian)存(cun)在(zai)差(cha)模(mo)幹(gan)擾(rao)，這(zhe)種(zhong)差(cha)模(mo)電(dian)壓(ya)會(hui)出(chu)現(xian)在(zai)充(chong)電(dian)器(qi)的(de)直(zhi)流(liu)輸(shu)出(chu)端(duan)。當(dang)同(tong)時(shi)對(dui)火(huo)線(xian)和(he)零(ling)線(xian)注(zhu)入(ru)時(shi)，存(cun)在(zai)著(zhe)共(gong)模(mo)幹(gan)擾(rao)，但(dan)對(dui)充(chong)電(dian)器(qi)的(de)輸(shu)出(chu)影(ying)響(xiang)並(bing)不(bu)大(da)。造(zao)成(cheng)手(shou)機(ji)在(zai)測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)出(chu)現(xian)問(wen)題(ti)的(de)原(yuan)因(yin)是(shi)複(fu)雜(za)的(de)

，具(ju)體(ti)表(biao)現(xian)為(wei)以(yi)下(xia)幾(ji)方(fang)麵(mian)。

前期設計時未考慮電快速瞬變脈衝群抑製功能


，沒有添加相關的濾波元器件
，PCB設計綜合布線時也沒有注意線纜的隔離，主板接地設計也不符合規範，另外關鍵元器件的也沒有采取屏蔽保護措施等；
生sheng產chan廠chang在zai元yuan器qi件jian供gong應ying商shang的de選xuan擇ze上shang沒mei有you選xuan用yong性xing能neng可ke靠kao的de關guan鍵jian器qi件jian，導dao致zhi測ce試shi過guo程cheng中zhong器qi件jian老lao化hua或huo者zhe器qi件jian失shi效xiao，從cong而er容rong易yi受shou到dao電dian快kuai速su瞬shun變bian脈mai衝chong的de幹gan擾rao
；在整機生產組裝過程中，加工工藝及組裝水平出現的問題可能會導致產品一致性不好

，個別送檢手機存在質量問題；

檢測過程中由於其他測試項出現問題導致整改，可能由於整改方案的選擇會影響到電快速瞬變脈衝群測試不合格。
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2.3電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗相關問題的改進建議

針對電快速脈衝群幹擾試驗出現的問題
，主要可以采取濾波及吸收的辦法來實現對電快速瞬變脈衝的抑製。

（1）在手機設計初期就應重點考慮抑製電快速瞬變脈衝群幹擾設計。

在PCB層電源輸入位置要做好濾波
，通常采用的是大小電容組合，根據實際情況可以酌情再添加一級磁珠來濾除高頻信號，盡量采用表麵封裝；盡量減小PCB的地線公共阻抗值；PCB布局盡量使幹擾源遠離敏感電路；PCB的各類走線要盡量短；減小環路麵積；
      
在綜合布線時要注意強弱電的布線隔離、信號線與功率線的隔離。綜合布線是係統很重要的一個設計組成部分

，一個糟糕的綜合布線格局很可能斷送一個設計精良的PCB的穩定性
；關鍵敏感芯片需要屏蔽；軟件上應正確檢測和處理告警信息，及時恢複產品的狀態。

（2）元器件的選擇上應使用質量可靠的芯片，最好做過芯片級的電磁兼容仿真試驗，質量可靠的充電器、數據線及電池的選用可提升對電快速瞬變脈衝信號的抑製能力；

（3）廠(chang)家(jia)在(zai)組(zu)裝(zhuang)生(sheng)產(chan)環(huan)節(jie)中(zhong)應(ying)嚴(yan)把(ba)質(zhi)量(liang)關(guan)，做(zuo)好(hao)生(sheng)產(chan)工(gong)藝(yi)流(liu)程(cheng)控(kong)製(zhi)，盡(jin)量(liang)保(bao)證(zheng)產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)的(de)一(yi)致(zhi)性(xing)
，減(jian)少(shao)因(yin)個(ge)別(bie)手(shou)機(ji)質(zhi)量(liang)問(wen)題(ti)帶(dai)來(lai)的(de)測(ce)試(shi)不(bu)合(he)格(ge)現(xian)象(xiang)；

（4）EFT測試過程中如出現問題，可采用在充電器增加磁環或者電快速瞬變脈衝群濾波器的方法進行整改
，選用磁珠的內徑越小、外徑越大、長度越長越好。采用加TVS管的整改方法作用有限；

（5）根據最新GB/T 17626.4-2008標準要求，重複頻率將增加100 kHz選項，將會比5 kHz更為嚴酷，廠家應及早重視進行相關的電快速瞬變脈衝群測試防護工作。

3 輻射騷擾及傳導騷擾

3.1輻射騷擾、傳導騷擾相關問題的具體情況

輻射騷擾測試主要在30 MHz-100 MHz和200 MHz-900 MHz頻率範圍內容易不合格
，傳導騷擾則體現在5 MHz-30 MHz頻段範圍內容易不合格。

3.2輻射騷擾傳導騷擾相關問題分析

輻(fu)射(she)騷(sao)擾(rao)與(yu)傳(chuan)導(dao)騷(sao)擾(rao)測(ce)試(shi)，是(shi)在(zai)使(shi)用(yong)充(chong)電(dian)器(qi)為(wei)手(shou)機(ji)充(chong)電(dian)，同(tong)時(shi)手(shou)機(ji)保(bao)持(chi)通(tong)信(xin)狀(zhuang)態(tai)以(yi)及(ji)最(zui)大(da)發(fa)射(she)功(gong)率(lv)情(qing)況(kuang)下(xia)，進(jin)行(xing)的(de)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)的(de)結(jie)果(guo)是(shi)手(shou)機(ji)與(yu)充(chong)電(dian)器(qi)聯(lian)合(he)工(gong)作(zuo)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)的(de)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。不(bu)合(he)格(ge)的(de)原(yuan)因(yin)可(ke)能(neng)是(shi)充(chong)電(dian)器(qi)造(zao)成(cheng)的(de)，也(ye)可(ke)能(neng)是(shi)手(shou)機(ji)本(ben)身(shen)造(zao)成(cheng)的(de)，也(ye)可(ke)能(neng)是(shi)手(shou)機(ji)與(yu)充(chong)電(dian)器(qi)聯(lian)合(he)工(gong)作(zuo)時(shi)兼(jian)容(rong)性(xing)不(bu)好(hao)而(er)不(bu)合(he)格(ge)。

產生問題的原因可能有以下幾個方麵。

1、充電器和手機在最初的設計階段沒有充分的考慮電磁兼容性能
；
2、在設計時，沒有針對輻射騷擾和傳導騷擾的電磁兼容性進行設計並采取相應的對策；
3
、充電器和手機選用的元器件的電磁兼容性不好或質量達不到要求；
4、shoujizaixuanyongchongdianqishi，meiyouchongfenkaolvshoujihechongdianqijiandediancijianrongxingjishoujihechongdianqidepipeixing，shoujishifeixianxingfuzai，zaizhenlingjitonghuashi
，ruguodianchidianliangbuzuerjinxingchongdianshi
，haofeidenenglianghenda，huiyouhendadechongjidianliu，zheyangruguoxuanyongdechongdianqibupipeihuoshuchudianliuguoxiao
，ceshiguochengzhonghuizaochengchongdianqimanfuhegongzuohuochaofuhegongzuoerchanshengdiancijianrongwenti，gengyanzhongshenzhihuichanshenganquanwenti。lingwairuguochongdianbuzhengchang，yehuizaochengshoujiqijianbuzhengchanggongzuoerchanshengdiancijianrongwenti。chongdianqiheshoujijiandexianghuganraoyehuizaochengceshijieguochaobiao；
5
、在zai進jin行xing測ce試shi前qian，手shou機ji和he充chong電dian器qi沒mei有you配pei合he進jin行xing電dian磁ci兼jian容rong預yu測ce試shi


，充chong電dian器qi有you可ke能neng單dan獨du使shi用yong負fu載zai做zuo了le電dian磁ci兼jian容rong測ce試shi，測ce試shi的de結jie果guo不bu能neng反fan應ying與yu手shou機ji共gong同tong測ce試shi的de結jie果guo。

3.3輻射騷擾傳導騷擾相關問題的改進建議

（1）zaishejijieduanyaochongfenkaolvdiancijianrongtexing，helikaolvdianlubandejiedisheji，yingbaochijiedihuanlujinliangxiao，shiyongwanggejiedi，xinhaoxianhuodianyuanxianjinliangyudixiankaojin。shejiguochengzhong


，duichongdianqiheshoujidechongdianduankoucaiqulvbocuoshi
，duifushefasheminganyuanqijiancaiqupingbicuoshi
，zengjiapingbizhao。

（2）選擇質量好，電磁兼容特性好的元器件。

（3）優化器件的位置
、布局和布線。器件布局一直按照功能和器件類型來對元器件進行分組
，例如，對既存在模擬電路、又存在數字器件的電路板
，可將器件按工作電壓

、頻率進行分組布局；duigeidingdechanpinxiliehuodianyuandianya

，keangongnengduiqijianjinxingfenzu。qijianfenzubujuwanbihou，bixugenjuyuanqijianzudianyuandianyadechabie，jiangdianyuancengbuzhizaigeqijianzudexiafang。ruguoyouduocengdi，namejiubixubashuzidicengjintieshuzidianyuanceng，monidijintiemonidianyuanceng
，monidiheshuzidiyaoyouyigegongdidian。tongchang，dianluzhongcunzaiA/D或D/A器(qi)件(jian)，這(zhe)些(xie)轉(zhuan)換(huan)器(qi)件(jian)同(tong)時(shi)由(you)模(mo)擬(ni)和(he)數(shu)字(zi)電(dian)源(yuan)供(gong)電(dian)，因(yin)此(ci)要(yao)將(jiang)轉(zhuan)換(huan)器(qi)放(fang)置(zhi)在(zai)模(mo)擬(ni)電(dian)源(yuan)和(he)數(shu)字(zi)電(dian)源(yuan)之(zhi)間(jian)。如(ru)果(guo)數(shu)字(zi)地(di)和(he)模(mo)擬(ni)地(di)是(shi)分(fen)開(kai)的(de)，它(ta)們(men)將(jiang)在(zai)轉(zhuan)換(huan)器(qi)彙(hui)合(he)。當(dang)電(dian)路(lu)板(ban)按(an)照(zhao)器(qi)件(jian)係(xi)列(lie)和(he)電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya)分(fen)組(zu)時(shi)，組(zu)內(nei)信(xin)號(hao)的(de)傳(chuan)送(song)不(bu)能(neng)跨(kua)越(yue)另(ling)外(wai)的(de)器(qi)件(jian)組(zu)
，如(ru)果(guo)信(xin)號(hao)跨(kua)過(guo)界(jie)限(xian)，就(jiu)不(bu)能(neng)與(yu)其(qi)回(hui)流(liu)路(lu)徑(jing)緊(jin)密(mi)耦(ou)合(he)，這(zhe)樣(yang)會(hui)增(zeng)大(da)電(dian)路(lu)的(de)環(huan)路(lu)麵(mian)積(ji)，從(cong)而(er)使(shi)電(dian)感(gan)增(zeng)加(jia)，電(dian)容(rong)減(jian)小(xiao)，進(jin)而(er)導(dao)致(zhi)共(gong)模(mo)和(he)差(cha)模(mo)幹(gan)擾(rao)的(de)增(zeng)加(jia)。電(dian)路(lu)板(ban)設(she)計(ji)過(guo)程(cheng)中(zhong)要(yao)避(bi)免(mian)出(chu)現(xian)各(ge)種(zhong)隔(ge)離(li)帶(dai)。雖(sui)然(ran)相(xiang)距(ju)很(hen)近(jin)的(de)一(yi)排(pai)通(tong)孔(kong)並(bing)不(bu)違(wei)反(fan)設(she)計(ji)規(gui)則(ze)，但(dan)是(shi)
，在(zai)電(dian)源(yuan)層(ceng)和(he)地(di)層(ceng)上(shang)過(guo)多(duo)的(de)通(tong)孔(kong)有(you)時(shi)相(xiang)當(dang)於(yu)開(kai)出(chu)一(yi)條(tiao)隔(ge)離(li)帶(dai)，要(yao)避(bi)免(mian)在(zai)該(gai)區(qu)域(yu)內(nei)布(bu)線(xian)，例(li)如(ru)
，一(yi)個(ge)3 ns的信號回路如果偏離其信號源路徑0.40英寸，則過衝/欠衝和感生串擾會大增，足以使電路工作出現異常，並同時增加差模和共模幹擾。

（4）充(chong)分(fen)考(kao)慮(lv)充(chong)電(dian)器(qi)與(yu)手(shou)機(ji)的(de)兼(jian)容(rong)性(xing)和(he)匹(pi)配(pei)性(xing)。充(chong)電(dian)器(qi)的(de)輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)應(ying)大(da)於(yu)手(shou)機(ji)的(de)峰(feng)值(zhi)電(dian)流(liu)。在(zai)選(xuan)擇(ze)匹(pi)配(pei)的(de)充(chong)電(dian)器(qi)前(qian)，應(ying)使(shi)用(yong)相(xiang)應(ying)的(de)充(chong)電(dian)器(qi)配(pei)合(he)手(shou)機(ji)進(jin)行(xing)輻(fu)射(she)騷(sao)擾(rao)和(he)傳(chuan)導(dao)騷(sao)擾(rao)預(yu)測(ce)試(shi)，驗(yan)證(zheng)兩(liang)者(zhe)間(jian)的(de)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)特(te)性(xing)，選(xuan)擇(ze)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)特(te)性(xing)好(hao)的(de)充(chong)電(dian)器(qi)。

（5）後期整改措施

對dui測ce試shi結jie果guo進jin行xing分fen析xi，聽ting取qu電dian磁ci兼jian容rong測ce試shi工gong程cheng師shi的de建jian議yi。對dui於yu輻fu射she騷sao擾rao測ce試shi，通tong過guo試shi驗yan確que認ren是shi充chong電dian器qi對dui測ce試shi結jie果guo的de影ying響xiang大da還hai是shi手shou機ji的de影ying響xiang大da。一yi般ban如ru果guo是shi低di頻pin超chao出chu限xian值zhi，則ze是shi充chong電dian器qi的de影ying響xiang大da些xie，如ru果guo是shi高gao頻pin則ze可ke能neng手shou機ji的de影ying響xiang大da；傳導騷擾測試也要確認哪個影響是主要因素。

如果充電器的影響為主要因素，首先確認充電器的各個器件是否正常工作
；如果是某個器件有問題
，先更換相應的器件後再進行測試。增加濾波電容或改進相應的濾波電路，對輻射騷擾和傳導騷擾都會有改進。

如果確認是手機的問題，確定超出頻率的來源
，對相應的器件進行屏蔽處理：加強屏蔽特性；改進屏蔽的接地；增加相應的濾波電容或對濾波電路進行調整；改進相應的匹配電路減少諧波或混頻幹擾

；加強手機的充電電路的濾波和接地，等等。

使用好的充電線纜，建議使用兩端都能接地的屏蔽線纜。
      
zaishoujicehuochongdianqicejiatieyangticihuan，duiyufushesaoraokenenghuiyouyidingdegaijin，duiyuchuandaosaoraoyoushiyingxiangbuda
，yaogenjuceshidepinlv，xuanzecihuandexiangyingpinlv。

綜上所述，對於輻射騷擾和傳導騷擾，應把握以下原則：
a)注重設計階段的電磁兼容設計；
b)注重充電器和手機的匹配；
c)選擇優良的元器件。