MOS管應用概述之一:米勒振蕩的應對
發布時間:2019-01-28 責任編輯:lina
【導讀】米勒振蕩是因為強的負反饋引起的開關振蕩,導致二次導通,對於後級大功率半橋、全橋等H橋(qiao)拓(tuo)撲(pu)結(jie)構(gou)應(ying)用(yong)中(zhong),容(rong)易(yi)導(dao)致(zhi)上(shang)下(xia)管(guan)子(zi)瞬(shun)間(jian)導(dao)通(tong)從(cong)而(er)炸(zha)毀(hui)管(guan)子(zi),這(zhe)個(ge)是(shi)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)設(she)計(ji)中(zhong)最(zui)核(he)心(xin)的(de)一(yi)環(huan),所(suo)以(yi)如(ru)何(he)避(bi)免(mian)米(mi)勒(le)振(zhen)蕩(dang)可(ke)以(yi)認(ren)為(wei)是(shi)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)設(she)計(ji)的(de)核(he)心(xin)關(guan)鍵(jian)。
米勒振蕩是因為強的負反饋引起的開關振蕩,導致二次導通,對於後級大功率半橋、全橋等H橋(qiao)拓(tuo)撲(pu)結(jie)構(gou)應(ying)用(yong)中(zhong),容(rong)易(yi)導(dao)致(zhi)上(shang)下(xia)管(guan)子(zi)瞬(shun)間(jian)導(dao)通(tong)從(cong)而(er)炸(zha)毀(hui)管(guan)子(zi),這(zhe)個(ge)是(shi)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)設(she)計(ji)中(zhong)最(zui)核(he)心(xin)的(de)一(yi)環(huan),所(suo)以(yi)如(ru)何(he)避(bi)免(mian)米(mi)勒(le)振(zhen)蕩(dang)可(ke)以(yi)認(ren)為(wei)是(shi)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)設(she)計(ji)的(de)核(he)心(xin)關(guan)鍵(jian)。
A、減緩驅動強度

1、提高MOS管G極的輸入串聯電阻,一般該電阻阻值在1~100歐姆之間,具體值看MOS管的特性和工作頻率,阻值越大,開關速度越緩。
2、在MOS管GS之間並聯瓷片電容,一般容量在1nF~10nF附近。看實際需求。
調(tiao)節(jie)電(dian)阻(zu)電(dian)容(rong)值(zhi),提(ti)高(gao)電(dian)阻(zu)和(he)電(dian)容(rong),降(jiang)低(di)充(chong)放(fang)電(dian)時(shi)間(jian),減(jian)緩(huan)開(kai)關(guan)的(de)邊(bian)沿(yan)速(su)度(du),這(zhe)個(ge)方(fang)式(shi)特(te)別(bie)適(shi)合(he)於(yu)硬(ying)開(kai)關(guan)電(dian)路(lu),消(xiao)除(chu)硬(ying)開(kai)關(guan)引(yin)起(qi)的(de)振(zhen)蕩(dang)。
B、加強關閉能力
1、差異化充放電速度,采用二極管加速放電速度

2、當第一種方案不足時,關閉時直接把GS短路

3、當第二種方案不足時,引入負壓確保關斷。

C、增加DS電容
在ZVS軟開關電路中,比如UC3875移相電路中,MOS管DS之間,往往並聯無感CBB小電容,一般容量在10nF以內,不能太大,有利於米勒振蕩,注意該電容的發熱量,頻率更高的時候,需要用雲母電容

D、提高漏極電感方式
相對應方案C的提高DS電容方式,該方案則采用提高漏極的電感方式
1、在漏極串聯鎳鋅磁珠,提高漏極電感,減緩漏極的電流變化,降低米勒振蕩,這個方案也是改善EMC的方法之一,效果比較明顯,但該方案不適合高頻率強電流的場合,否則該磁珠就發熱太高而失效。
2、PCB布線時,人為的引入布線電感,增長MOS管漏極、源極的PCB布線長度,比如方案C的圖中,適當提高半橋上下MOS管之間的引線,對改善米勒振蕩有很大的影響,但這個需要自身的技術水平較高,否則容易失敗,此外布線長度提高,需要相應的考慮MOS管的耐壓,嚴重的,需要加MOS管吸收電路。
E、常用的MOS管吸收電路,利於保護MOS管因關閉時產生過高的電壓導致DS擊穿,對米勒振蕩也有幫助,電路形式多樣,以下列舉四種,應用場合不同,采用不同的方式。


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